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伊利石的微结构特征研究

伊利石的微结构特征研究

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图文详情
  • ISBN:9787030349224
  • 装帧:暂无
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:123
  • 出版时间:2012-06-01
  • 条形码:9787030349224 ; 978-7-03-034922-4

本书特色

陈涛编著的《伊利石的微结构特征研究》第1章概述黏土矿物的晶体结构,详细阐述伊利石的结构特征以及成因、产状,分析现代伊利石微结构的研究现状。第2章叙述微结构研究的两种主要方法,着重对伊利石等层状硅酸盐透射电镜制样方法、获取不同电子显微像的实验条件以及拍摄注意事项进行阐述,并且把X射线衍射和高分辨透射电镜在微结构研究中的应用进行对比。第3章讲述伊利石的重要结晶学参数,即结晶度和粒度分析,该方法是微结构研究前需要对样品进行的分析工作。第4章讨论云母型层状硅酸盐的多型结构,由伊利石多型的高分辨电子显微像揭示成岩带中存在的各种伊利石多型结构,证明1M型伊利石的存在,并探讨伊利石的层内结构调整多型转变机制。第5章介绍高分辨电子显微像直接观察到的伊利石层间偏移结构和单元层内存在的“不足错动”和“过分错动”结构,并从晶体结构解释这种现象存在的原因。第6章讲述利用XRD和HRTEM对伊利石的混层结构的研究方法和实例。第7章阐述近双晶以及符合棋盘格子理论,发现了富Fe伊利石中存在的具有26°旋转角度的伊利石近双晶结构。

内容简介

     陈涛编著的《伊利石的微结构特征研究》介绍黏土矿物以及层状硅酸盐矿物进行微结构研究的实验方法和实验技术,详述高分辨透射电镜在层状硅酸盐中的实验技术。针对黏土矿物中*广泛分布的伊利石,阐述利用透射电镜和x射线衍射对伊利石微结构进行研究的一些新发现。本书叙述了利用高分辨透射电镜这一先进的现代测试技术对伊利石中存在的层问堆垛结构、多型结构、单元层间和单元层内缺陷结构、混层结构以及近双晶结构进行分析和研究的方法。这些新的晶体结构现象只能通过高分辨透射电镜才能观察和发现。本书阐述的研究方法可以借鉴到其他矿物及晶体材料的研究中。 《伊利石的微结构特征研究》可供从事矿物学、晶体学及透射电镜研究的科研工作者及相关专业的研究生参考阅读。

目录


前言 第1章  概述   1.1  黏土矿物晶体结构     1.1.1  层状硅酸盐的基本晶体结构     1.1.2  层状黏土矿物晶体结构     1.1.3  层链状黏土矿物晶体结构   1.2  伊利石的晶体结构、成因及产状   1.3  伊利石微结构研究现状 第2章  微结构的研究方法   2.1  透射电镜和分析电镜     2.1.1  透射电镜和分析电镜的原理和用途     2.1.2  电子衍射花样     2.1.3  高分辨电子显微像的种类     2.1.4  伊利石获取高分辨显微像的入射方向     2.1.5  获取高分辨电子显微像时的调试注意事项     2.1.6  胶片拍摄像与ccd拍摄像的对比     2.1.7  试样制备方法   2.2  x射线衍射分析     2.2.1  x射线衍射峰的物理学意义     2.2.2  黏土矿物鉴定的基本准则     2.2.3  黏土矿物衍射分析样品的制备   2.3  黏土矿物的富集   2.4  xrd和hrtem方法在微结构研究中的对比 第3章  伊利石的结晶度及粒度   3.1  伊利石的结晶度     3.1.1  伊利石结晶度与kubler指数     3.1.2  伊利石结晶度的测量   3.2  伊利石的平
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