包邮基于FPGA&CPLD数字IC设计方法

第1章 历史回顾： 可编程逻辑集成电路到专用集成电路ASIC
本章目标
1.1 可编程只读存储器(PROM)
1.2 可编程逻辑阵列(PLA)
1.3 可编程阵列逻辑(PAL)
1.4 掩膜门阵列ASIC
1.5 CPLD和FPGA
1.6 小结
练习
第2章 复杂可编程逻辑器件（CPLD）
本章目标
2.1 CPLD体系结构
2.2 功能模块
2.3 I/O模块
2.4 时钟驱动器
2.5 内部互连
2.6 CPLD技术和可编程单元
2.7 嵌入式器件
2.8 小结： 选择CPLD的准则
练习
第3章 现场可编程门阵列（FPGA）
本章目标
3.1 FPGA体系结构
3.2 可配置逻辑模块
3.3 可配置I/O模块
3.4 嵌入式器件
3.5 可编程互连
3.6 时钟电路
3.7 SRAM编程与反熔丝编程的对比
3.8 仿真和ASIC原型
3.9 小结
练习
第4章 可编程器件的通用设计方法论（UDMPD）
本章目标
4.1 什么是UDM和UDMPD?
4.2 写出一份设计规范
4.3 设计规范的评估
4.4 选择器件和工具
4.5 设计
4.6 检验
4.7 *终评估
4.8 系统集成与测试
4.9 产品运输
4.10 小结
练习
第5章 设计技术、规则和指导方针
本章目标
5.1 硬件描述语言
5.2 自上而下的设计方法
5.3 同步设计
5.4 悬浮节点
5.5 总线争抢
5.6 每个状态一个触发器编码
5.7 设计测试（DFT）
5.8 测试备用逻辑
5.9 初始化状态机
5.10 可观测的节点
5.11 扫描技术
5.12 芯片内装自测试（BIST）
5.13 特征分析
5.14 小结
练习
第6章 检验
本章目标
6.1 什么是检验？
6.2 仿真
6.3 静态定时分析
6.4 声明语言
6.5 整体检验
6.6 小结
练习
第7章 电子设计自动化工具
本章目标
7.1 仿真软件
7.2 测试平台发生器
7.3 现场工具
7.4 综合软件
7.5 自动测试比特位模型的产生（ATPG）
7.6 扫描插入软件
7.7 芯片内装自测试（BIST）发生器
7.8 静态定时分析软件
7.9 整体检验软件
7.10 布局和布线软件
7.11 编程工具
7.12 小结
练习
第8章 现在与未来
本章目标
8.1 内核
8.2 特殊的I/O驱动器
8.3 新型结构
8.4 具有嵌入式FPGA单元的ASIC
8.5 小结
附录A 答案
第1章，历史回顾： 可编程逻辑集成电路到专用集成电路ASIC
第2章，复杂可编程逻辑器件(CPLD)
第3章，现场可编程门阵列(FPGA)
第4章，可编程器件的通用设计方法论（UDMPD）
第5章，设计技术、规则和指导方针
第6章，检验
第7章，电子设计自动化工具
附录B 第5章中各电路原理图的Verilog源程序代码
术语表
参考文献
作者简介