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空间辐射环境可靠性技术

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  • ISBN:9787118122169
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:其他
  • 页数:236
  • 出版时间:2022-01-01
  • 条形码:9787118122169 ; 978-7-118-12216-9

内容简介

本书提出的空间辐射环境可靠性是指“电子设备在规定的空间辐射环境下、在规定的任务周期内、在规定的任务指标要求下,能够正常运行完成规定的功能的能力或概率”。本书围绕“空间辐射环境可靠性”,首先说明空间辐射环境与危害,进而介绍空间辐射环境可靠性技术原理,然后介绍空间辐射环境可靠性预计方法,以及所需的空间辐射环境试验。很后提供了设计方案应用案例与工具软件。希望能够帮助卫星、飞机、地面系统采用“空间辐射环境可靠性技术”获得低成本、高可靠、高性能的电子设备,尽量避免过设计与欠设计。

目录

第1章 绪论
1.1 空间辐射环境
1.2 空间辐射环境危害
1.2.1 宇宙空间辐射环境危害
1.2.2 大气空间辐射环境危害
1.2.3 地面空间辐射环境危害
1.3 空间辐射环境可靠性
1.4 空间辐射环境试验
1.4.1 试验目的
1.4.2 地面模拟试验
1.4.3 真实应用环境试验
1.5 空间辐射环境可靠性技术应用现状与发展趋势
1.5.1 空间辐射环境可靠性技术现状
1.5.2 空间辐射环境可靠性技术发展趋势
参考文献

第2章 空间辐射环境危害与应力分析
2.1 空间辐射环境辐射源
2.2 空间辐射环境效应及危害分析
2.2.1 宇宙空间辐射环境效应及危害分析
2.2.2 大气空间辐射环境效应及危害分析
2.2.3 地面空间辐射环境效应及危害分析
2.3 空间辐射环境应力分析
2.3.1 宇宙空间辐射环境应力分析
2.3.2 大气空间辐射环境应力分析
2.3.3 地面空间辐射环境应力分析
参考文献

第3章 空间辐射环境可靠性技术原理
3.1 概述
3.2 电子设备可靠性模型简介
3.3 空间辐射环境可靠性的基本模型
3.4 空间辐射环境可靠性的指标制定与分配理论
参考文献

第4章 空间辐射环境可靠性预计
4.1 空间辐射环境可靠性预计基本方法
4.1.1 预计基本模型
4.1.2 预计关键要素
4.2 宇宙空间辐射环境可靠性预计
4.2.1 宇宙空间辐射环境可靠性预计程序
4.2.2 器件空间辐射环境可靠性预计模型
4.2.3 器件TID与DD失效率预计
4.2.4 器件SEE事件率预计
4.2.5 器件采取防护措施后单粒子翻转错误率的计算
4.2.6 器件空间辐射效应环境可靠性预计案例
4.3 大气空间辐射环境可靠性预计
4.3.1 航空电子设备大气中子SEE故障率预计模型
4.3.2 航空电子设备大气中子SEE故障率预计程序
4.3.3 大气中子辐射环境应力计算
4.3.4 大气中子SEU和SET引起的设备软故障率计算方法
4.3.5 大气中子SEL和SEFI引起的设备软故障率计算方法
4.3.6 大气中子SEL和SEB引起的设备硬故障率计算方法
4.3.7 器件SEE截面获取方法
4.3.8 设备空间辐射环境可靠性预计案例
4.4 地面空间辐射环境可靠性预计
参考文献
……

第5章 空间辐射环境试验
第6章 设计方案应用案例
第7章 工具软件
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