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- ISBN:9787118130850
- 装帧:平装-胶订
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 开本:其他
- 页数:296
- 出版时间:2024-01-01
- 条形码:9787118130850 ; 978-7-118-13085-0
内容简介
本书主要围绕功率器件在高温和温度变化下的热可靠性这一主题,对功率器件基本概念、热相关可靠性检测、试验和分析进行了介绍。在功率器件基本概念部分主要介绍了功率器件的分类、功能结构、工艺,并引出了现有功率器件可能存在的热可靠性问题。功率器件热可靠性检测、试验部分主要介绍了功率器件的缺陷检测方法、可靠性试验方法和状态监测方法。*后在功率器件热可靠性分析方面,介绍了功率器件的电热耦合及封装结构仿真分析方法。本书在编写过程中结合了状态监测和健康管理、物理基仿真和失效物理等可靠性新技术,研究建立了具有一定创新性的功率器件检测、试验和分析方法。同时,本书还特别强调了理论与工程的结合、试验与仿真的结合,具有较强的工程实用性。
目录
●第1章 功率器件发展及分类
1.1 功率器件发展历程
1.1.1功率器件简介
1.1.2晶闸管发展历程
1.1.3功率MOSFET发展历程
1.1.4IGBT发展历程
1.2 功率器件的主要类型
1.2.1功率器件的分类方式
1.2.2功率二极管的主要类型
1.2.3功率晶闸管的主要类型
1.2.4功率BJT的主要类型
1.2.5MOSFET的主要类型
1.2.6IGBT的主要类型
1.3 功率器件的发展趋势
1.3.1整体发展趋势
1.3.2碳化硅(SiC)功率器件发展趋势
1.3.3氮化镓(GaN)功率器件发展趋势
参考文献
……
1.1 功率器件发展历程
1.1.1功率器件简介
1.1.2晶闸管发展历程
1.1.3功率MOSFET发展历程
1.1.4IGBT发展历程
1.2 功率器件的主要类型
1.2.1功率器件的分类方式
1.2.2功率二极管的主要类型
1.2.3功率晶闸管的主要类型
1.2.4功率BJT的主要类型
1.2.5MOSFET的主要类型
1.2.6IGBT的主要类型
1.3 功率器件的发展趋势
1.3.1整体发展趋势
1.3.2碳化硅(SiC)功率器件发展趋势
1.3.3氮化镓(GaN)功率器件发展趋势
参考文献
……
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作者简介
付桂翠,女,1968年生,博士,教授,博士生导师,总装某重点型号可靠性专家组成员。主要研究领域为电子元器件可靠性理论与应用、电子元器件可靠性试验与评价等,曾主持和参与了多项国防预先研究、国防973、国防基础研究、技术基础及重大型号课题的研究。
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