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试验机与无损探伤仪器卷-机械工业常用仪器仪表标准汇编-(下)

试验机与无损探伤仪器卷-机械工业常用仪器仪表标准汇编-(下)

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  • ISBN:9787506651554
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:753
  • 出版时间:2009-03-01
  • 条形码:9787506651554 ; 978-7-5066-5155-4

目录

机械振动、冲击设备与动平衡机GB/T4201-2006平衡机的描述检验与评定GB/T7670-1987电动振动试验设备特性的描述方法GB/T9238-1998平衡机及其仪器仪表用图形符号GB/T9239.1-2006机械振动恒态(刚性)转子平衡品质要求第1部分:规范与平衡允差的检验GB/T9239.2-2006机械振动恒态(刚性)转子平衡品质要求第2部分:平衡误差GB/T10179-1988液压伺服振动试验设备特性的描述方法GB12977-2008平衡机防护罩和测量工位的其他保护措施GB/T13309-2007机械振动台技术条件GB/T13310-2007电动振动台GB/T13823.4-1992振动与冲击传感器的校准方法磁灵敏度测试GB/T13823.5-1992振动与冲击传感器的校准方法安装力矩灵敏度测试GB/T13823.6-1992振动与冲击传感器的校准方法基座应变灵敏度测试GB/T13823.8-1994振动与冲击传感器的校准方法横向振动灵敏度测试GB/T13823.9-1994振动与冲击传感器的校准方法横向冲击灵敏度测试GB/T13823.12-1995振动与冲击传感器的校准方法安装在钢块上的无阻尼加速度计共振频率测试GB/T13823.14-1995振动与冲击传感器的校准方法离心机法一次校准GB/T13823.15-1995振动与冲击传感器的校准方法瞬变温度灵敏度测试法GB/T13823.16-1995振动与冲击传感器的校准方法温度响应比较测试法GB/T13823.17-1996振动与冲击传感器的校准方法声灵敏度测试GB/T14123-1993冲击台的特性描述GB/T18328-2001振动台选择指南GB/T20485.1-2008振动与冲击传感器校准方法第1部分:基本概念GB/T20485.12-2008振动与冲击传感器校准方法第12部分:互易法振动绝对校准GB/T20485.22-2008振动与冲击传感器校准方法第22部分:冲击比较法校准GB/T20731-2006车轮平衡机的检验GB/T21116-2007液压振动台JB/T6867-1993陀螺转子平衡机技术条件JB/T7789-1995双面立式平衡机技术条件JB8898-1999平衡机安全通用技术条件JB/T9390-2002卧式硬支承平衡机技术条件JB/T9391-2001碰撞试验台技术条件JB/T9392-2002单面立式平衡机技术条件JB/T9393-2002卧式软支承平衡机技术条件力与变形测试仪器GB/T12160-2002单轴试验用引伸计的标定GB/T13634-2008单轴试验机检验用标准测力仪的校准JB/T5483-1991标准扭矩仪技术条件JB/T5484-1991杠杆式力标准机技术条件JB/T6146-2007引伸计技术条件JB/T9394-1999X射线应力测定仪技术条件工艺试验机与包装试验机JB/T7408-1994杯突试验机技术条件JB/T7796-2005弹簧拉压试验机JB/T9395-2004四球摩擦试验机技术条件JB/T9396-1999环块磨损试验机技术条件超声波与声放射探伤仪器JB/T5754-1991单通道声发射检测仪技术条件JB/T8283-1999声发射检测仪器性能测试方法JB/T10061-1999A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件JB/T10062-1999超声探伤用探头性能测试方法X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器GB/T13221-2004纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法GB/T14480.3-2008无损检测涡流检测设备第3部分:系统性能和检验JB/T5453-2004工业X射线图像增强器电视系统技术条件JB/T6215-2004工业用X射线管系列型谱JB/T6220-2004射线探伤用密度计JB/T6221-2004工业X射线探伤机电气通用技术条件JB/T6828-1993周向X射线管技术条件JB/T6829-1993金属陶瓷X射线管技术条件JB/T6870-2005携带式旋转磁场探伤仪技术条件JB/T7411-1994电磁轭探伤仪技术条件JB/T7412-1994固定式(移动式)工业X射线探伤机JB/T7413-1994携带式工业X射线探伤机JB7788-1995500kV以下工业X射线探伤机防护规则……
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