×
基于失效模式的电子元器件质量控制

基于失效模式的电子元器件质量控制

1星价 ¥49.6 (7.3折)
2星价¥49.6 定价¥68.0
暂无评论
图文详情
  • ISBN:9787563829347
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:184页
  • 出版时间:2019-05-01
  • 条形码:9787563829347 ; 978-7-5638-2934-7

本书特色

电子元器件是在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电或光电功能的基本单元,是电子产品的基本组成部分。在中国航天六十余年的发展历程中,电子元器件的可靠性问题备受关注。按照自力更生的原则,中国运载火箭长期以来坚持推广应用国产电子元器件。中国的电子元器件为我国航天事业的发展做出了重要贡献。

内容简介

电子元器件是在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电或光电功能的基本单元,是电子产品的基本组成部分。在中国航天六十余年的发展历程中,电子元器件的可靠性问题备受关注。按照自力更生的原则,中国运载火箭长期以来坚持推广应用国产电子元器件。中国的电子元器件为我国航天事业的发展做出了重要贡献。

目录

**章 问题导向——基于失效模式的质量控制方法 **节 再归零原则 第二节 规范标准,建立数据管理系统 第三节 提升元器件可靠性的主要途径 第二章 看似简单,但失效时常发生——电子元件的典型失效模式 **节 电容器漏电 第二节 电连接器内部多余物问题 第三节 混装电连接器的接触对损坏问题 第四节 电磁继电器内部多余物问题 第三章 成效显著,但仍需努力保持——电子器件典型失效模式 **节 功率器件的热致失效 第二节 半导体器件键合界面的可靠性控制 第三节 半导体器件键合质量一致性控制 第四节 半导体器件内部水汽含量控制 第五节 内部多余物问题的防治 第四章 存在变数,探索的重点——大规模集成电路的可靠性问题 **节 大规模集成电路的质量保证 第二节 芯片设计与制造问题 第三节 内引线短路问题 第四节 引出端疲劳损伤问题 第五节 其他新器件应用的可靠性问题 第五章 不可不关注的问题——塑封器件及其质量保证 **节 典型生产工艺及其在高可靠领域的应用现状 第二节 失效模式、机理和应对措施 第三节 质量保证建议
展开全部

作者简介

李京苑,中国航天科技集团公司一院 质量保证部部长。曾出版《统计过程控制与评价——CPK、SPC和PPM技术》《几何量常用测量方法》等作品。

预估到手价 ×

预估到手价是按参与促销活动、以最优惠的购买方案计算出的价格(不含优惠券部分),仅供参考,未必等同于实际到手价。

确定
快速
导航