无机非金属材料研究方法(第2版)

1 绪论 1.1 材料结构及其层次 1.2 研究方法的种类 1.2.1 图像分析法 1.2.2 非图像分析法 2 光学显微分析 2.1 晶体光学基础 2.1.1 可见光的一般知识 2.1.2 光性均质体和光性非均质体 2.1.3 光率体 2.1.4 光性方位 2.2 偏光显微镜及薄片的制备 2.2.1 偏光显微镜的构造 2.2.2 偏光显微镜的调节和校正 2.2.3 偏光显微镜研究试样的制备 2.3 偏光显微镜下矿物的光学性质 2.3.1 单偏光系统下矿物的光学性质 2.3.2 正交偏光系统下矿物的光学性质 2.3.3 聚敛偏光系统下矿物的光学性质 2.4 反光显微镜光片研究 2.4.1 反射光学基础 2.4.2 反光显微镜 2.4.3 反光显微镜试样的制备 2.4.4 反射光下矿物的光学性质 习题与思考题 3 X射线衍射分析 3.1 X射线的物理基础 3.1.1 X射线的本质 3.1.2 X射线的强度 3.1.3 X射线的产生 3.1.4 X射线的性质 3.1.5 X射线谱 3.1.6 X射线与物质的相互作用 3.2 X射线衍射的几何条件 3.2.1 劳埃方程 3.2.2 布拉格方程 3.2.3 厄瓦尔德图解 3.3 X射线衍射强度 3.3.1 一个电子对X射线的散射强度 3.3.2 一个原子对X射线的散射强度 3.3.3 一个晶胞对X射线的散射强度 3.3.4 一个小晶体对X射线的散射强度和衍射积分强度 3.3.5 粉末多晶的衍射积分强度 3.3.6 影响衍射强度的其他因素 3.4 X射线衍射方法 3.4.1 单晶体衍射方法 3.4.2 多晶体衍射方法 3.5 物相分析 3.5.1 物相定性分析 3.5.2 物相定量分析