×
航天集成电路测试技术

包邮航天集成电路测试技术

1星价 ¥83.3 (8.5折)
2星价¥83.3 定价¥98.0
暂无评论
图文详情
  • ISBN:9787515921860
  • 装帧:平装-胶订
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:其他
  • 页数:暂无
  • 出版时间:2025-01-01
  • 条形码:9787515921860 ; 978-7-5159-2186-0

内容简介

本书由中国航天电子技术研究院组织编写,首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状,进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展,再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类,结合大量宝贵实例,对其进行了全面阐述。本书旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果,推动其规范发展,提升测试人员实操水平与工作效率,完善航天集成电路人才培育体系。

预估到手价 ×

预估到手价是按参与促销活动、以最优惠的购买方案计算出的价格(不含优惠券部分),仅供参考,未必等同于实际到手价。

确定
快速
导航