系统测试性设计分析与验证

第1章 绪 论1.1 故障、诊断与测试性的基本概念1.1.1 故障及其后果1.1.2 故障诊断1.1.3 测试性和机内测试1.1.4 综合诊断1.2 测试性及诊断技术的发展1.2.1 由外部测试到机内测试1.2.2 测试性成为一门独立的学科1.2.3 综合诊断、人工智能及cAD的应用1.2.4 国内测试性发展现状1.3 测试性／BIT对系统的影响1.3.1 对维修性的影响1.3.2 对可靠性的影响1.3.3 对可用性和战备完好性的影响1.3.4 对寿命周期费用的影响1.3.5 测试性／BIT影响分析实例1.4 常用测试性与诊断术语习 题第2章 测试性和诊断参数2.1 概述2.2 参数定义及说明2.2.1 故障检测率2.2.2 关键故障检测率2.2.3 故障隔离率2.2.4 虚警率2.2.5 故障检测时间2.2.6 故障隔离时间2.2.7 系统的故障检测率和隔离率2.2.8 不能复现率2.2.9 台检可工作率2.2.10 重测合格率2.2.11 误拆率2.2.12 BIT／ETE可靠性2.2.13 BIT／ETE维修性2.2.14 BIT／ETE平均有效运行时间2.2.15 虚警与(2ND及RTOK的关系习题第3章 测试性设计与管理工作概述3.1 测试性工作项目及说明3.1.1 测试性工作项目3.1.2 测试性工作项目说明3.1.3 测试性与其他专业工程的接口3.2 系统各研制阶段的测试性工作3.2.1 要求和指标论证阶段3.2.2 方案论证和确认阶段3.2.3 工程研制阶段3.2.4 生产阶段和使用阶段3.3 测试性设计的目标和内容3.3.1 设计目标3.3.2 设计内容3.4 测试性设计工作流程3.4.1 各研制阶段测试性工作流程3.4.2 与系统功能和特性设计并行的测试性设计流程3.4.3 多级测试性设计流程3.4.4 UUT测试性与诊断设计流程3.5 测试性设计工作的评价与度量3.5.1 测试性设计分析报告3.5.2 测试性与诊断有效性评价3.5.3 产品对使用要求的符合性评价习 题第4章 测试性与诊断要求4.1 概述4.2 确定测试性与诊断要求依据分析4.2.1 任务要求分析4.2.2 系统构成特性分析4.2.3 使用和保障要求分析4.2.4 可利用新技术分析4.3 测试性与诊断要求的内容4.3.1 嵌入式诊断要求4.3.2 外部诊断要求4.3.3 测试性与诊断定性要求4.3.4 测试性与诊断定量要求4.4 系统与产品的测试性要求4.4.1 系统测试性要求4.4.2 产品测试性要求4.5 确定测试性指标的程序和方法4.5.1 确定测试性要求的程序4.5.2 测试性参数的选择4.5.3 测试性与可靠性、维修性之间的权衡分析4.5.4 用类比法确定测试性指标4.5.5 初定指标的分析检验4.6 诊断指示正确性和BIT影响分析4.6.1 BIT对可靠性影响分析4.6.2 BIT对维修性影响分析4.6.3 诊断指示正确性分析4.7 测试性／诊断规范示例4.7.1 初步系统测试性规范4.7.2 系统测试性规范4.7.3 CI测试性研制规范习 题第5章 故障诊断方案5.1 诊断方案的制定程序5.2 候选诊断方案5.2.1 确定诊断方案的依据5.2.2 诊断方案组成要素5.2.3 候选诊断方案的确定5.3 *佳诊断方案的选择5.4 权衡分析5.4.1 定性权衡分析5.4.2 定量权衡分析5.5 费用分析5.5.1 故障诊断子系统费用模型5.5.2 BIT寿命周期费用增量模型5.5.3 简单费用分析举例习 题第6章 测试性与诊断要求分配6.1 概述6.1.1 测试性分配的指标6.1.2 进行测试性分配工作的时间6.1.3 测试性分配工作的输入和输出6.1.4 测试性分配的模型和要求6.2 等值分配法和经验分配法6.2.1 等值分配法6.2.2 经验分配法6.3 按系统组成单元的故障率分配法6.4 加权分配法6.5 综合加权分配法6.5.1 测试性分配模型和工作程序6.5.2 综合主要影响因素的加权分配方法6.5.3 只考虑复杂度时的分配方法6.5.4 只考虑重要度时的分配方法6.6 有部分老产品时的分配方法6.7 优化分配方法6.7.1 优化分配的数学模型6.7.2 解法介绍6.7.3 算法及步骤6.7.4 目标函数和约束函数的选择6.7.5 应用举例习题第7章 固有测试性设计与评价7.1 固有测试性设计7.1.1 划 分7.1.2 功能和结构设计7.1.3 初始化7.1.4 测试控制7.1.5 测试观测7.1.6 元器件选择7.1.7 其他7.2 测试性设计准则7.2.1 电子功能结构设计7.2.2 电子功能划分7.2.3 测试控制