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  • ISBN:9787560330440
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:306
  • 出版时间:2011-01-01
  • 条形码:9787560330440 ; 978-7-5603-3044-0

本书特色

近年来,随着表征探测技术的迅速发展,固体材料学科也取得了长足的进步,其中纳米固体材料领域更是当今的研究热点。为了满足广大科技工作者的需求,韩喜江主编的《固体材料常用表征技术》对固体材料的一些常用分析和表征技术进行了归纳和总结,主要介绍表征技术的发展、仪器结构、工作原理和实例分析等几个方面。与之前出版的表征技术类书籍不同的是,本书更注重表征技术的应用实例,编者结合自身多年的科研经验,在书中给出了大量的测试谱图和相关科研论文,并对其进行了详细分析,力图为相关领域的科研工作提供一定的帮助和参考。

内容简介

本书共分13章,分别介绍X射线光电子能谱分析技术,X射线粉末衍射分析技术,俄歇电子能谱分析技术,X射线吸收精细结构分析技术等。

目录

第1章 x射线光电子能谱分析技术
1.1 引言
1.2 仪器构造与样品制备
1.2.1 x射线源
1.2.2 超高真空系统(ijhv)
1.2.3 分析器与数据系统
1.2.4 其他附件
1.2.5 灵敏度和检测限
1.2.6 清洁表面制备
1.3 基本原理
1.3.1 xps的物理基础
1.3.2 xps谱的结合能参照基准
1.3.3 结合能化学位移
1.4 xps在化学上的应用及实例解析
1.4.1 定性分析
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