数字电子技术基础

第1章　逻辑代数基础
　1.1　概述
　　1.1.1　逻辑代数
　　1.1.2　数字电路
　　阶段测试
　1.2　数制与编码
　　1.2.1　数制的基本概念
　　1.2.2　常用数制
　　1.2.3　不同数制的标记
　　1.2.4　不同进制数之间的转换
　　1.2.5　编码
　　阶段测试
　1.3　逻辑运算
　　1.3.1　基本逻辑运算
　　1.3.2　复合逻辑运算
　　阶段测试
　1.4　逻辑代数的定律、定理、规则及常用公式
　　1.4.1　基本公式和定律
　　1.4.2　重要的定律和定理
　　1.4.3　基本规则
　　1.4.4　几个常用的重要公式
　　阶段测试
　1.5　逻辑函数的代数化简法
　　1.5.1　化简的标准和依据
　　1.5.2　化简的基本方法
　　阶段测试
　1.6　逻辑函数的卡诺图化简法
　　1.6.1　逻辑函数的标准与或表达式
　　1.6.2　用卡诺图表示逻辑函数
　　1.6.3　用卡诺图化简逻辑函数
　　1.6.4　具有约束条件的逻辑函数的化简
　　阶段测试
　1.7　逻辑函数的表示方法及其相互转换
　　1.7.1　逻辑表达式的5种形式
　　1.7.2　逻辑函数表示方法之间的相互转换
　　阶段测试
　本章小结
　本章知识结构
　综合练习
第2章　门电路
　2.1　概述
　2.2　半导体器件的开关特性
　　2.2.1　半导体二极管的开关特性
　　2.2.2　双极型三极管的开关特性
　　2.2.3　mos管的开关特性
　　阶段测试
　2.3　ttl门电路
　　2.3.1　ttl与非门
　　2.3.2　其他类型的ttl门
　　阶段测试
　2.4　cmos门电路
　　2.4.1　cmos非门
　　2.4.2　常用cmos门电路
　　2.4.3　cmos传输门
　　2.4.4　cmos门电路与ttl门电路的比较
　　阶段测试
　2.5　集成门电路的使用和应用
　　2.5.1　集成门电路的使用
　　2.5.2　cmos门电路与ttl门电路的接口
　　2.5.3　门电路的应用举例
　　阶段测试
　知识拓展
　本章小结
　本章知识结构
　综合练习
第3章　组合逻辑电路
　3.1　组合逻辑电路的特点和功能描述
　3.2　组合逻辑电路的分析与设计方法
　　3.2.1　组合逻辑电路的分析方法
　　3.2.2　组合逻辑电路的设计方法
　　阶段测试
　3.3　常用集成组合逻辑电路
　　3.3.1　加法器
　　3.3.2　编码器
　　3.3.3　译码器
　　3.3.4　数据选择器
　　3.3.5　数值比较器
　　阶段测试
　3.4　msi组合逻辑电路的应用
　　3.4.1　用集成二进制译码器设计组合逻辑电路
　　3.4.2　用数据选择器设计组合逻辑电路
　　3.4.3　用其他集成组合器件设计组合逻辑电路
　　3.4.4　基于msi的组合逻辑电路的分析
　　阶段测试
　3.5　组合逻辑电路的竞争与冒险
　　3.5.1　竞争冒险的概念及其产生的原因
　　3.5.2　竞争冒险的判断方法
　　3.5.3　消除竞争冒险的方法
　　阶段测试
　本章小结
　本章知识结构
　综合练习
第4章　触发器
第5章　时序逻辑电路
第6章　脉冲产生与整形电路
第7章　半导体存储器
第8章　数/模与模/数转换器
第9章　数字电路的综合应用
附录a　常用数字集成电路型号索引
附录b　部分阶段测试与综合练习答案
参考文献