半导体材料测试与分析

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作者：杨德仁

出版社：科学出版社

本类榜单：工业技术

分类：工业技术 > 电子通信 > 半导体技术

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图文详情

ISBN：9787030270368
装帧：一般胶版纸
册数：暂无
重量：暂无
开本：B5
页数：381
出版时间：2016-01-02
条形码：9787030270368 ; 978-7-03-027036-8

本书特色

　　半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石，而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量，因此，半导体材料性能和结构的测试和分析，是半导体材料研究和开发的重要方面。本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V 等测试分析技术。
本书可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书，也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。

内容简介

半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石，而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量，因此，半导体材料性能和结构的测试和分析，是半导体材料研究和开发的重要方面。《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。　　《半导体材料测试与分析》可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书，也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。

前言第1章电阻率测试第2章扩展电阻测试第3章少数载流子寿命测试第4章少数载流子扩散长度测试第5章霍尔效应测试第6章红外光谱测试第7章深能级瞬态谱测试第8章正电子湮没谱测试第9章光致荧光谱测试第10章紫外-可见吸收光谱测试第11章电子束诱生电流测试第12章 I-V和C-V测试

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