单片机应用与电子设计竞赛实训.2版

第1章 基础部分1.1 电阻1.1.1 电阻器参数的识别1.1.2 电阻器的种类1.1.3 电阻器的检测1.2 电容1.2.1 电容参数的识别1.2.2 电容的种类1.2.3 电容的检测1.3 电感1.3.1 电感参数的识别1.3.2 常用电感的种类1.3.3 电感的检测1.4 二极管1.4.1 二极管参数的识别1.4.2 二极管的种类1.4.3 二极管的检测1.5 三极管1.5.1 三极管的参数识别1.5.2 三极管的种类1.5.3 三板管的检测1.6 逻辑电路1.6.1 基本逻辑电路1.6.2 存储电路1.6.3 寄存器1.6.4 计数器1.6.5 锁存器 第2章 单片机基础2.1 单片机的寄存器2.2 单片机的存储装置2.3 单片机的指令2.4 单片机的端口2.4.1 控制I／O端口的功能寄存器2.4.2 端口的输入控制2.4.3 端口的输出控制2.5 单片机的定时器2.5.1 定时器的类型2.5.2 8位定时器／事件计数器502.6 单片机内部的A／D转换器2.6.1 A／D转换器的操作2.6.2 A／D转换器的应用2.6.3 使用开发工具进行系统开发2.7 单片机内部的串行接口2.7.1 异步串行通讯接口2.7.2 3线串行通讯接口2.8 中断2.9 选项字节 第3章 实验环境3.1 教学板硬件概述3.1.1 教学板及附件3.1.2 NEC AF／SP-1编程器的连接3.1.3 NEC NTC MINICUBE 78KO的连接3.1.4 教学板配置图3.2 系统结构框图3.3 存储器映射图3.3.1 存储器组3.3.2 存储器映射3.4 I／O映射 第4章 系统开发环境介绍4.1 开发环境概述4.1.1 软件包4.1.2 语言处理软件4.1.3 Flash存储器写入工具4.1.4 调试工具（硬件）4.1.5 调试工具（软件）4.2 可以自动生成代码的系统配置功能——Applilet4.2.1 Applilet的简述4.2.2 Applilet的操作4.2.3 加载到PM Plus4.3 PM Plus的操作4.4 QB-78KOMINI仿真器的使用4.4.1 界面介绍4.4.2 使用QB-78KOMINI仿真器4.4.3 在ID78KO-QB for MINICUBE中调试4.4.4 高级调试功能4.5 系统仿真器SM for 78KO／Kx2的使用4.5.1 加载SM for 78KO／Kx24.5.2 运行程序4.5.3 使用系统仿真器SM for 78KO／Kx2进行调试 第5章 实验项目5.1 KEY＆LED控制5.1.1 实验目的5.1.2 实验内容5.1.3 预备知识5.1.4 实验原理5.1.5 实验方法5.2 点阵式LCD的控制5.2.1 实验目的5.2.2 实验内容5.2.3 预备知识5.2.4 实验原理5.2.5 实验方法5.3 串行口控制5.3.1 实验目的5.3.2 实验内容5.3.3 预备知识5.3.4 实验原理5.3.5 实验方法5.4 直流电机控制5.4.1 实验目的5.4.2 实验内容5.4.3 预备知识5.4.4 实验原理5.4.5 实验方法5.5 步进电机控制5.5.1 实验目的5.5.2 实验内容5.5.3 预备知识5.5.4 实验原理5.5.5 实验方法5.6 音乐键 喇叭控制5.6.1 实验目的5.6.2 实验内容5.6.3 预备知识5.6.4 实验原理5.6.5 实验方法5.7 EEPROM控制5.7.1 实验目的5.7.2 实验内容5.7.3 预备知识5.7.4 实验原理5.7.5 实验方法5.8 温度、压力传感器控制5.8.1 实验目的5.8.2 实验内容5.8.3 预备知识5.8.4 实验原理5.8.5 实验方法5.9 综合实验5.9.1 实验目的5.9.2 实验内容5.9.3 实验环境5.9.4 实验原理5.9.5 实验方法 第6章 电子制作6.1 电路构成6.2 闪存编程器的制作6.3 编程器的应用6.4 程序开发6.4.1 开发工具的准备6.4.2 编程