电子技术基础

第1章 半导体二极管及其基本电路
1．1 半导体基础知识
1．1．1 半导体材料
1．1．2 PN结及其单向导电性
1．2 半导体二极管及其特性
1．2．1 二极管的结构与符号
1．2．2 二极管的伏安特性
1．2．3 二极管的主要参数
1．3 特殊二极管
1．3．1 稳压二极管
1．3．2 发光二极管
1．3．3 光电二极管
实验训练1半导体二极管单向导电性的测试

第2章 半导体三极管及其放大电路
2．1 半导体三极管
2．1．1 三极管的结构与图形符号
2．1．2 三极管的电流放大作用
实验训练2半导体三极管各极电流分配关系的测试
2．1．3 三极管的特性曲线
2．1．4 三极管的主要参数
2．2 放大电路的性能指标
2．2．1 放大倍数
2．2．2 输入电阻
2．2．3 输出电阻
实验训练3共射基本放大电路性能指标的测试
2．3 共发射极放大电路
2．3．1 共发射极放大电路的组成
2．3．2 放大电路的基本分析方法
2．4 静态工作点稳定的放大电路
2．4．1 温度对静态工作点的影响
2．4．2 分压式偏置电路
实验训练4分压式偏置电路工作点稳定性的测试
2．5 共集电极和共基极放大电路
2．5．1 共集电极放大电路
实验训练5共集电极放大电路基本特性的测试
2．5．2 共基极放大电路
2．6 多级放大电路
2．6．1 多级放大电路的耦合方式
2．6．2 多级放大电路的性能分析
2．7 反馈放大电路
2．7．1 反馈的基本概念
2．7．2 反馈类型的判断方法
2．7．3 反馈放大电路的分析
2．7．4 负反馈对放大电路性能的影响
实验训练6负反馈放大电路放大倍数稳定性的测试

第3章 场效应管及其放大电路
3．1 场效应管概述
3．2 结型场效应管（JFET）
3．2．1 JFET的结构和工作原理
3．2．2 JFET的特性曲线
3．2．3 JFET的主要参数
实验训练7JFET各电压与电流关系的测试
3．3 金属-氧化物-半导体场效应管（MOSFET）
3．3．1N沟道增强型MOSFET
3．3．2N沟道耗尽型MOSFET
3．4 场效应管放大电路
3．4．1 场效应管基本放大电路的组成
3．4．2 分压式偏置电路

第4章 集成运算放大器及其应用
4．1 集成运算放大器简介
4．1．1 集成运算放大器基本结构
4．1．2 集成运放的符号
4．1．3 集成运放的主要性能指标
4．1．4 集成运放的电压传输特性
4．1．5 理想集成运放
4．2 集成运放的线性应用
实验训练8集成运放加法电路的测试
实验训练9集成运放减法电路的测试
4．3 集成运放的非线性应用电路

第5章 低频功率放大电路
5．1 概述
5．1．1 功率放大电路的特点
5．1．2 功率放大器的分类
5．2 乙类互补对称功率放大电路
5．2．1 互补对称功放电路的组成和原理
5．2．2 互补对称功放电路分析
5．2．3 消除交越失真的互补对称电路
实验训练10低频功率放大器的测试
5．3 集成功率放大器的应用

第6章 直流稳压电源
6．1 直流稳压电源的组成和作用
6．2 整流电路
6．2．1 半波整流电路
6．2．2 全波桥式整流电路
6．3 滤波电路
6．3．1 电容滤波电路
6．3．2 电感滤波电路
6．3．3 其他滤波电路
6．4 稳压电路
6．4．1 硅稳压二极管稳压电路
6．4．2 串联反馈式稳压电路
6．4．3 三端集成稳压器
实验训练11三端式稳压器电路的测量

第7章 数字逻辑基础
7．1 数字电路概述
7．1．1 数字信号与模拟信号
7．1．2 数字技术和数字系统
7．2 数制与编码
7．2．1 数制
7．2．2 数制间转换
7．2．3 编码
7．3 逻辑代数运算
7．3．1 逻辑代数基本运算
7．3．2 逻辑代数复合运算
7．3．3 基本门电路应用举例——简易火警报警器
7．4 逻辑代数的数学描述
7．4．1 逻辑代数的公式与定律
7．4．2 逻辑代数的基本运算规则
7．5 逻辑函数化简
7．5．1 逻辑函数表达式
7．5．2 逻辑函数的公式法化简
7．5．3 逻辑函数的卡诺图化简
7．6 逻辑函数的描述方法及转换
7．6．1 逻辑函数的描述方法
7．6．2 几种描述方法之间的转换
实验训练12常用仪器的使用及与非门的功能测试

第8章 逻辑门电路
8．1 TTL集成逻辑门电路
8．1．1 TTL与非门
8．1．2 其他类型的TTL门电路
8．2 CMOS集成门电路
8．2．1 CMOS门电路
8．2．2 其他类型的CMOS门电路
8．3 集成门电路的使用
8．3．1 TTL门电路的使用
8．3．2 CMOS门电路的使用

第9章 组合逻辑电路
9．1 组合逻辑电路的分析与设计方法
9．1．1 组合逻辑电路的分析方法
9．1．2 组合逻辑电路的设计方法
实验训练13组合电路设计训练
9．2 常用组合逻辑电路
9．2．1 编码器
9．2．2 译码器
实验训练14中规模组合逻辑电路设计
实验训练15中规模组合逻辑电路设计二
9．2．3 多路选择器
9．2．4 多路分配器
实验训练16中规模组合逻辑电路设计三
9．3 组合逻辑电路应用举例～一八路抢答器
9．4 组合逻辑电路的竞争一冒险现象
9．4．1 竞争-冒险现象及产生原因
9．4．2 竞争-冒险现象的判断

第10章 时序逻辑电路
10．1 基本概念
10．2 触发器
10．2．1 基本RS触发器
10．2．2 同步RS触发器
10．2．3 边沿触发RS触发器
10．2．4 同步D触发器
10．2．5 边沿触发的D触发器
10．2．6 T触发器
10．2．7 边沿JK触发器
实验训练17锁存器、触发器逻辑功能测试及相互转换
10．3 同步时序逻辑电路的分析方法
10．4 同步时序逻辑电路的设计方法
10．5 寄存器
10．5．1 数码寄存器
10．5．2 移位寄存器
10．5．3 74LS194移位寄存器及其应用
实验训练18移位寄存器的功能测试及应用
10．6 计数器
10．6．1 常用集成计数器
10．6．2 计数器的应用
实验训练19用触发器设计同步计数器
实验训练20集成计数器的功能测试及应用

第11章 半导体存储器与可编程逻辑器件
11．1 存储器概述
11．2 随机存取存储器（RAM）
11．3 只读存储器（ROM）
11．4 可编程逻辑器件

第12章 数模与模数转换
12．1 数模转换
12．1．1 基本原理
12．1．2 常用的DA转换方法
12．1．3 数模转换器的性能指标
12．1．4 集成DA转换器DAC0832的应用
12．2 模数转换
12．2．1 基本原理
12．2．2 AD转换器的主要参数
12．2．3 AD转换器的常用类型
12．2．4 集成转换器的应用
实验训练21DA转换器的功能测试及应用
实验训练22AD转换器的功能测试及应用

第13章 综合技能训练
13．1 数字万用表的使用
13．1．1 数字万用表的使用要点
13．1．2 电子元器件的测试
13．2 焊接技术
13．2．1 焊接工具——电烙铁
13．2．2 电烙铁使用方法
13．2．3 使用烙铁进行手工焊接的步骤
13．2．4 对焊点的基本要求
13．2．5 注意事项
13．3 数字电路的设计与制作
13．3．1 数字电路的安装
13．3．2 数字电路的调试
13．3．3 数字电路的故障检测与排除
13．4 数字钟设计制作
13．5 数字频率计的设计与制作
13．5．1 设计目的要求
13．5．2 设计内容、方法与步骤
参考文献

附录
附录A 半导体器件型号命名方法
附录B TTL和CMOS逻辑门电路的技术参数
附录C 常用数字逻辑符号对照表
附录D 常用数字集成芯片引脚图