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  • ISBN:9787564659332
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:24cm
  • 页数:97页
  • 出版时间:2023-08-01
  • 条形码:9787564659332 ; 978-7-5646-5933-2

内容简介

本书主要介绍了图的两个容错性参数、不同故障模型下图的诊断能力的关系以及故障网络子结构可靠性的上下界。对高性能计算机系统的设计和研发有着重要的参考价值,同时为系统维护提供了理论依据。

目录

第1章 绪论 1.1 研究背景及本书研究内容 1.2 图的基本概念与互连网络模型第2章 n维环面网络的匹配排除 2.1 匹配排除问题研究进展和本章主要结论 2.2 准备工作 2.3 2维环面网络的匹配排除数 2.4 n维环面网络的*小匹配排除集第3章 k复合网络的强匹配排除 3.1 强匹配排除问题研究进展和本章主要结论 3.2 准备工作 3.3 k复合网络的*小强匹配排除集 3.4 应用第4章 n维环面网络的分数匹配排除 4.1 分数匹配排除问题研究进展和本章主要结论 4.2 准备工作 4.3 n维环面网络的*小分数匹配排除集 4.4 n维环面网络的*小条件分数匹配排除集第5章 超Rk连通 5.1 连通度问题研究进展和本章主要结论 5.2 准备工作 5.3 轮生成的凯莱图的*小R1-点割和*小R2-点割第6章 不同诊断模型下网络的g好邻诊断度关系 6.1 故障诊断问题研究进展和本章主要结论 6.2 准备工作 6.3 主要结论 6.4 应用第7章 由完全图对换生成的凯莱图的子结构分析 7.1 子结构可靠性问题研究进展和本章主要结论 7.2 准备工作 7.3 主要结论参考文献
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