材料现代测试分析技术

1 晶体结构基础 1.1 晶体的结构及其基本性质 1.1.1 晶体及晶体结构研究简史 1.1.2 晶体、非晶体与准晶体 1.1.3 晶体的自限性 1.1.4 晶体的均匀性与各向异性 1.1.5 晶体的对称性 1.1.6 晶体的热力学稳定性 1.2 晶体结构与晶体点阵 1.2.1 晶体的结构基元与点阵 1.2.2 布拉维平面格子（5种） 1.2.3 布拉维空间格子（14种） 1.2.4 晶胞与原胞 1.2.5 晶向、晶面、晶面指数与晶面间距 1.3 对称操作与对称元素 1.3.1 点对称操作 1.3.2 空间对称操作 1.4 群的概念 1.4.1 群的定义 1.4.2 子群 1.4.3 群的等价操作类 1.5 晶体点群及其特征标表 1.5.1 点群的圣弗利斯符号与国际符号 1.5.2 晶体学点群（32种） 1.5.3 32种点群的矩阵表示及其特征标表 1.6 空间群 1.6.1 晶体点群与空间群的区别及联系 1.6.2 73个点式空间群的推导 1.6.3 157个非点式空间群的推导 1.6.4 等效点系与等效位置 1.6.5 点群中位置群的不可约表示及其推导方法 1.7 晶体结构数据库及其建构软件 1.7.1 CIF文件及晶体结构数据库 1.7.2 无机晶体结构数据库检索软件的使用 1.7.3 晶体学开放数据库的使用 1.7.4 剑桥结构数据库检索软件的使用 2 X射线光电子能谱分析 2.1 原子的能级结构 2.1.1 原子论的起源与发展 2.1.2 原子的能级结构 2.1.3 原子的能级图 2.2 光电效应与光电子能谱法 2.2.1 光电效应基本规律的发现与解释 2.2.2 凯·西格班与化学分析电子能谱法 2.3 X射线光电子能谱仪 2.3.1 仪器结构 2.3.2 X射线激发源 2.3.3 电子能量分析器 2.3.4 光电子强度探测器 2.4 X射线光电子能谱检测 2.4.1 能量标尺的校正 2.4.2 样品与进样系统 2.4.3 光电子能谱表示法 2.4.4 宽谱扫描与窄谱扫描 2.4.5 荷电校正 2.5 XPS图的主要谱峰及其来源 2.5.1 元素的特征谱峰 2.5.2 俄歇效应与俄歇电子谱峰 2.5.3 光电子的卫星谱峰 2.5.4 多重分裂谱峰 2.5.5 能量损失谱峰 2.5.6 携上峰、携下峰和振离峰 2.5.7 光电子鬼峰 2.6 光电子能谱分析 2.6.1 XPS定性分析 2.6.2 化学态分析 2.6.3 深度分析 2.6.4 XPS定量分析 3 X射线能谱光谱分析 3.1 X射线光谱法及其发展 3.1.1 X射线的本质 3.1.2 莫塞莱定律 3.1.3 X射线高分辨谱的发现 3.1.4 X射线光谱学的发展 3.2 X射线的产生与X射线光谱 3.2.1 X射线的产生 3.2.2 X射线光谱 3.3 能量色散X射线光谱仪 3.3.1 锂漂移探测器 3.3.2 硅漂移探测器 3.3.3 多通道脉冲幅度分析器 4 粉末晶体X射线衍射分析 5 透射电子显微分析 6 扫描电子显微与电子背散射衍射分析 7 热分析 8 振动光谱分析 附录 参考文献