数字集成电路测试——理论、方法与实践
- ISBN:9787302662037
- 装帧:平装-胶订
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 开本:其他
- 页数:0
- 出版时间:2024-06-01
- 条形码:9787302662037 ; 978-7-302-66203-7
本书特色
本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发,系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系,内容突出基础理论和关键技术,并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例,介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。
? 系统性 内容涵盖数字集成电路测试的基本原理和体系架构。
? 全面性 全面介绍可测试性设计、测试生成、SoC测试等技术。
? 先进性 结合半导体行业发展的趋势,介绍测试技术和测试标准的近期发展。
? 实践性 以业界常用的Tessent为例,介绍典型的测试综合流程,同时提供设计案例、EDA脚本、习题解答等配套教学资源。
内容简介
《数字集成电路测试——理论、方法与实践》全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论,第2~9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术,第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 针对每一种数字集成电路测试技术,本书一方面用示例讲述其技术原理,另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载),并在每章后附有习题。通过本书,读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术;另一方面,还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。 《数字集成电路测试——理论、方法与实践》适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生教材,也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考。
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