嵌入式处理器调试方法与案例分析

第1章 嵌入式系统与调试技术概述 1.1 嵌入式系统概述 1.2 嵌入式系统的开发调试技术 1.3 嵌入式多核处理器的开发调试 1.4 嵌入式系统调试知识库 第2章 工程中的通用调试方法 2.1 基础概念与方法 2.2 因果方法 2.3 调试思维过程 2.4 调试分解方法 2.5 调试之上——质量问题归零 第3章 处理器调试技术深入分析 3.1 技术工具分析 3.2 模型分析 3.3 方法学分析 3.4 因果分析 第4章 嵌入式处理器系统设计与常见故障问题 4.1 片外硬件电路设计 4.2 片内部件使用与优化 4.3 软件实时处理框架与插桩 4.4 软件性能调优 4.5 嵌入式处理器系统故障树 第5章 典型案例深入剖析 5.1 案例1：外部器件适配故障（SRAM） 5.2 案例2：外部器件适配故障（SDRAM） 5.3 案例3：总线接口故障 5.4 案例4：外围电路故障 5.5 案例5：内核指令故障 5.6 案例6：片内数据存储器故障 5.7 案例7：片内程序存储器故障 5.8 案例8：软件算法库故障 5.9 案例9：系统功能故障 5.10 案例10：貌似硬件故障的软件缺陷 第6章 简要案例分类归纳 6.1 沟通故障 6.2 仿真调试 6.3 电源和上下电相关 6.4 时钟相关 6.5 复位相关 6.6 存储器接口 6.7 低速外设接口 6.8 自举相关 6.9 中断相关 6.10 软件问题 6.11 SRIO接口 6.12 PCIe接口 6.13 DDR接口 6.14 网络接口 附录1 嵌入式系统知识库 附录2 状态机切换示例代码