微波和太赫兹波段复介电常数与复磁导率测量技术

第1章 绪论 1.1 研究背景 1.2 研究现状 1.2.1 T/R测试单层平板的提取方法与技术的研究现状 1.2.2 T/R测试薄膜和粉末/颗粒的提取方法与技术的研究现状 1.2.3 R-O和T-O测试单层平板的提取方法与技术的研究现状 1.3 研究内容和创新 1.4 结构及内容安排 本章小结 第2章 二端口传输线测量理论与技术 2.1 传输线S参数 2.1.1 S参数矩阵 2.1.2 S参数与电磁场边值的关系 2.2 二端口传输线测试及其S参数 2.2.1 T/R测试及其S参数 2.2.2 R-O测试及其S参数 2.2.3 T-O测试及其S参数 2.3 本征电磁参数提取算法 2.3.1 NRW解析提取算法 2.3.2 非解析提取算法原理 2.3.3 非解析提取算法——牛顿-拉夫逊迭代 2.3.4 非解析提取算法——非线性*小二乘拟合 2.3.5 非解析提取算法——人工神经网络 本章小结 第3章 T/R测试单层材料的T-PTLM研究 3.1 一种测试位置相关的稳定复介电常数解析提取方法 3.1.1 基于电磁场分析的稳定复介电常数提取模型 3.1.2 实验验证及分析 3.1.3 仿真验证及分析 3.2 一种与测试位置无关的稳定复介电常数组合提取方法 3.2.1 基于组合技术的稳定复介电常数提取模型 3.2.2 实验验证及分析 3.2.3 仿真验证及分析 3.3 一种基于人工神经网络/非解析的稳定复介电常数组合提取方法 3.3.1 基于ANN的稳定复介电常数提取模型 3.3.2 实验验证及分析 本章小结 第4章 T/R测试多层材料的T-PTLM研究 4.1 衬底上薄膜本征电磁参数优化提取方法 4.1.1 基于电磁场分析的本征电磁参数解析提取优化模型 4.1.2 实验验证及分析 4.1.3 仿真验证及分析 4.2 平板间粉末/颗粒本征电磁参数优化提取方法 4.2.1 基于电磁场分析的复介电常数稳定提取模型 4.2.2 实验验证及分析 本章小结 第5章 R-O和T-O测试单层材料的T-PTLM研究 5.1 基于R-O测试的T-PTLM的解析提取优化方法 5.1.1 基于短路和匹配R-O测试的复介电常数解析提取优化模型 5.1.2 实验验证及分析 5.1.3 仿真验证及分析 5.2 与MUT测试位置无关的基于R-O测试的T-PTLM 5.2.1 消除R-O测试位置对本征电磁参数提取影响的ANN模型 5.2.2 实验验证及分析 5.2.3 仿真验证及分析 5.3 太赫兹频段基于T-O测试的T-PTLM的迭代提取优化方法 5.3.1 自由空间平板传输系数模型 5.3.2 基于传输系数幅值的介电常数估算模型 5.3.3 基于传输系数相位的介电常数估算模型 5.3.4 介电常数估算模型应用过程 5.3.5 仿真验证及分析 本章小结 第6章 总结与展望 6.1 工作总结 6.2 未来工作的展望 参考文献