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  • ISBN:9787560673134
  • 装帧:平装-胶订
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:216
  • 出版时间:2024-08-01
  • 条形码:9787560673134 ; 978-7-5606-7313-4

内容简介

本书共8章,主要内容包括GaN体单晶衬底和Si基GaN外延、横向GaN基HEMT器件及其结构、垂直型GaN基电力电子晶体管、GaN基功率器件的可靠性、GaN基功率器件的鲁棒性验证、寄生效应对GaN基功率转换器的影响、GaN基AC/DC功率转换器、GaN基开关模式功率放大器等。本书内容涵盖范围广,从材料生长到器件制造、从特性分析到鲁棒性验证、从电路设计到系统应用,层次清晰且系统性较强,可读性较高;其内容具有一定的前瞻性与先进性,所涉及的技术领域与工艺水平均为目前国际主流。
本书可作为微电子、电子信息工程、电气工程等专业的本科生以及相关专业的研究生教材,也可以供从事半导体器件设计、器件可靠性分析、电力电子系统开发的工程技术人员参考。

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