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加速试验·统计模型、试验设计与数据分析(精装)

加速试验·统计模型、试验设计与数据分析(精装)

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  • ISBN:9787515916798
  • 装帧:精装
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:16开
  • 页数:534
  • 出版时间:2019-08-01
  • 条形码:9787515916798 ; 978-7-5159-1679-8

内容简介

可靠性是产品质量和竞争力的重要保障,可靠性试验是保证和评估产品可靠性的有效手段。加速试验是通过提高试验应力水平来缩短试验周期的一种可靠性试验方法,它使长寿命产品的可靠性评定成为可能。 本书是美国可靠性领域著名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典著作,系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法,并给出了大量的相关实例。本书有助于开展更高效的加速试验,获取更有效、准确的信息。 本书不仅适用于可靠性工程师、统计人员,以及在产品的设计、研发、试验、制造、质量控制等过程中使用加速试验的工程技术人员,对高校教学和科研人员也有一定的参考价值。

目录

目录
第1章绪论 1-1怎样使用本书 1-2方法与应用综述 1-2-1方法 1-2-2材料 1-2-3产品 1-2-4退化机理 1-3数据类型 1-4加速类型与应力加载 1-4-1高使用率 1-4-2过应力 1-4-3截尾 1-4-4退化 1-4-5样品设计 1-4-6应力加载 1-5工程因素 1-5-1试验目的 1-5-2产品特性 1-5-3实际试验样品 1-5-4实际试验条件 1-5-5加速应力 1-5-6其他变量 1-5-7测量误差 1-5-8模型 1-5-9样本量、应力水平和试验时间的选择 1-5-10预先设计 1-6常用加速试验 1-6-1大象试验 1-6-2环境应力筛选 1-6-3单应力水平加速试验 1-6-4多应力水平加速试验 1-6-5老炼试验 1-7统计因素 习题
第2章恒定应力寿命试验模型 2-1引言 2-2基本概念与指数分布 2-2-1累积分布函数 2-2-2可靠度函数 2-2-3百分位数 2-2-4概率密度 2-2-5均值 2-2-6方差和标准差 2-2-7危险函数(瞬时失效率) 2-3正态分布 2-4对数正态分布 2-5Weibull分布 2-6极值分布 2-7其他分布 2-8寿命应力关系 2-8-1关系 2-8-2应用 2-8-3包含分布和关系的模型 2-8-4分布曲线 2-8-5概述 2-9Arrhenius寿命温度关系 2-9-1Arrhenius寿命模型 2-9-2Arrhenius对数正态模型 2-9-3ArrheniusWeibull模型 2-9-4Arrhenius指数模型 2-10逆幂律模型 2-10-1模型表达式 2-10-2幂律对数正态模型 2-10-3幂律Weibull模型 2-10-4幂律指数模型 2-11耐久(疲劳)极限模型与分布 2-11-1幂型模型 2-11-2线性模型 2-11-3疲劳极限(或强度)分布 2-12其他单应力模型 2-12-1指数模型 2-12-2幂指数模型 2-12-3二次多项式模型 2-12-4金属疲劳的弹塑性模型 2-12-5温度加速的Eyring模型 2-13多变量模型 2-13-1对数线性模型 2-13-2广义Eyring模型 2-13-3指示变量 2-13-4Logistic回归模型 2-13-5非线性模型 2-13-6Cox(比例危险)模型 2-14与应力相关的对数寿命的散度 2-14-1散度的对数线性模型 2-14-2方差分量 习题 第3章数据图形分析法 3-1引言 3-2完全数据与Arrhenius对数正态模型 3-2-1数据(H级绝缘系统) 3-2-2对数正态概率图 3-2-3寿命应力关系图(Arrhenius) 3-2-4图估计 3-2-5评价模型和数据 3-3完全数据和幂律Weibull模型 3-3-1数据(绝缘液体) 3-3-2Weibull概率图 3-3-3寿命应力关系图(逆幂律) 3-3-4图估计 3-3-5评价模型和数据 3-4单一截尾数据 3-4-1数据(B级绝缘系统) 3-4-2概率图(对数正态分布) 3-4-3寿命应力关系图(Arrhenius) 3-4-4图估计 3-4-5评价模型和数据 3-5多重截尾数据 3-5-1数据(匝间绝缘失效) 3-5-2危险图(对数正态分布) 3-5-3寿命应力关系图(Arrhenius) 3-5-4图估计 3-5-5评价模型和数据 3-6区间数据 3-6-1区间数据和微处理器实例 3-6-2概率图和置信限 3-6-3寿命应力关系图和加速因子 习题
第4章完全数据和*小二乘法 4-1引言 4-2对数正态寿命分布的*小二乘法 4-2-1实例数据、模型和计算机输出 4-2-2参量的点估计 4-2-3置信区间 4-3线性对数正态分布模型和数据的检验 4-3-1寿命应力关系是否为线性? 4-3-2(对数)标准差是否为常数? 4-3-3寿命分布是否是(对数)正态分布? 4-3-4数据检验 4-3-5其他变量的影响 4-4Weibull分布和指数分布的*小二乘法 4-4-1实例数据和Weibull模型 4-4-2参量的点估计 4-4-3置信区间 4-5线性Weibull模型和数据的检验 4-5-1寿命应力关系是否是线性的? 4-5-2Weibull分布的形状参数是否为常数? 4-5-3寿命是否服从Weibull分布? 4-5-4Weibull分布形状参数估计 4-5-5其他变量的影响 4-5-6数据检验 4-6多变量模型 4-6-1引言 4-6-2实例数据 4-6-3拟合指定的模型 4-6-4一般模型的逐步拟合 习题
第5章截尾数据和*大似然方法 5-1*大似然估计简介 5-2右截尾数据的简单模型拟合 5-2-1实例数据和模型 5-2-2ML计算结果 5-2-3特例 5-3简单模型和右截尾数据的评价 5-3-1模型特征参数等于指定值 5-3-2恒定尺度参数 5-3-3寿命应力关系是线性的吗? 5-3-4评价寿命分布 5-3-5数据检验 5-3-6其他变量的影响 5-4其他模型和数据类型 5-4-1其他类型数据的简单模型拟合 5-4-2其他单应力模型 5-4-3多变量模型 5-4-4部分系数指定 5-5*大似然计算方法 5-5-1数据 5-5-2模型 5-5-3似然函数 5-5-4模型系数的ML估计 5-5-5Fisher矩阵和协方差矩阵 5-5-6函数与其方差的估计 5-5-7近似正态置信区间 5-5-8近似似然比置信区间 习题
第6章试验方案设计 6-1简单模型和完全数据的试验方案 6-1-1基础 6-1-2*优试验方案 6-1-3传统试验方案 6-1-4试验方案的比较 6-1-5良好试验方案 6-1-6样本量 6-2简单模型和单一截尾数据的试验方案 6-2-1引言 6-2-2基础 6-2-3*佳传统试验方案 6-2-4*优试验方案 6-2-5*优、*佳传统和良好折中试验方案的比较 6-2-6MeekerHahn试验方案 6-3试验方案的仿真评价 6-3-1推荐试验方案 6-3-2模型 6-3-3仿真 6-3-4估计精度 6-4试验方案设计综述 6-5试验方案设计的ML理论 习题
·ⅩⅦ·
第7章竞争失效模式和尺寸效应 7-1串联系统模型 7-2可互换串联系统 7-3尺寸效应 7-4不均匀应力 7-4-1引言 7-4-2均匀应力模型 7-4-3非均匀应力模型 7-5图形分析 7-5-1数据和模型 7-5-2一种失效模式的分析 7-5-3所有失效模式作用下的寿命分布 7-5-4某些失效模式消除后的寿命分布 7-5-5模型和数据的检验 7-6竞争失效模式的*大似然分析 7-6-1数据和模型 7-6-2每种失效模式下的ML估计 7-6-3所有失效模式下的ML估计 7-6-4某些失效模式消除后的ML估计 7-6-5模型和数据的ML检验 7-7竞争失效模式的ML理论 7-7-1一般模型 7-7-2对数似然 7-7-3ML估计 7-7-4Fisher矩阵和协方差矩阵 7-7-5函数的点估计和置信区间 习题
·ⅩⅧ· 第8章完全数据的*小二乘法比较 8-1假设检验与置信区间 8-2图形比较 8-2-1数据和模型 8-2-2任一应力水平下百分位寿命的比较 8-2-3寿命应力关系的比较 8-2-4斜率的比较 8-2-5分布散度的比较 8-3对数标准差的比较 8-3-1一个σ的比较 8-3-2两个σ的比较 8-3-3K个σ的比较 8-4(对数)均值的比较 8-4-1一个(对数)均值的比较 8-4-2两个(对数)均值的比较 8-4-3K个(对数)均值的比较 8-5简单寿命应力关系的比较 8-5-1斜率系数的比较 8-5-2截距系数的比较 8-5-3斜率和截距的同时比较 8-6多变量寿命应力关系的比较 8-6-1(对数)标准差的比较 8-6-2(对数)均值的比较 8-6-3系数的比较 8-6-4寿命应力关系的比较 习题
第9章截尾及其他数据的*大似然比较 9-1引言 9-2单个样本的比较 9-2-1估计值与规定值的比较 9-2-2Q个估计值与规定值的比较 9-2-3多个估计值相等的比较 9-3两个样本的比较 9-3-1一对参量的比较 9-3-2Q对系数的同时比较 9-4K个样本的比较 9-4-1同一参量的K个估计值的比较 9-4-2Q组K个系数估计的同时比较 9-5似然比检验和相关检验的原理 9-5-1问题描述 9-5-2似然比检验 9-5-3相关检验 习题 ·ⅩⅨ·
第10章步进和变应力模型及数据分析 10-1变应力试验理论综述 10-2步进应力模型和数据分析 10-2-1步进应力数据 10-2-2步进应力模型 10-2-3*大似然分析 10-3变应力模型与数据分析 10-3-1变应力数据 10-3-2变应力模型 10-3-3*大似然分析 习题
第11章加速退化 11-1应用综述 11-2退化模型 11-2-1Arrhenius反应速率模型 11-2-2简单恒定退化速率模型 11-2-3随机系数模型 11-2-4随机增量模型 11-2-5数学退化速率模型 11-3Arrhenius分析 11-3-1绝缘材料击穿数据和模型 11-3-2图形分析 11-3-3解析方法 11-3-4模型和数据的检验 习题
附录A统计表
参考文献
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作者简介

Wayne Nelson博士是加速试验数据和可靠性统计分析领域*主要的专家之一。他目前担任多家公司的顾问,针对统计方法的不同工程和科研应用为企业提供咨询,开发了新的统计方法和计算机程序。Nelson博士为企业、高校和专业协会提供讲学、培训和研讨;Nelson博士还是一名鉴定人,并曾在通用电气公司研发部门从事应用咨询25年。
鉴于他在可靠性、加速试验方面的贡献,Nelson博士被选为美国统计协会会员(1973)、美国质量协会会员(1983)以及电气与电子工程师学会(IEEE)会员(1988)。由于他在产品可靠性与加速试验数据统计方法开发与应用方面的突出贡献,通用电气公司研发部为他颁发了1981年度Dushman奖。美国质量协会为表彰他杰出的技术领导与创新发展能力而授予他2003年度Shewhart奖。
Nelson博士已发表统计方法方面的学术论文120余篇,其中大部分都是关于工程应用的。由于发表的论文,他曾获1969年度Brumbaugh奖、1970年度Youden奖和1972年度Wilcoxon奖,以及所有美国质量协会的奖项。ASA为表彰他在国家联合统计会议上发表的高水平论文,已经授予他8次杰出表现奖。
1990年,他获得**个NIST/ASA/NSF高级研究奖学金资助,在美国国家标准与技术研究所合作研究微电子的电迁移失效模型。2001年,受Fulbright奖资助,他在阿根廷从事可靠性数据分析的研究和讲学工作。Wayne Nelson博士是加速试验数据和可靠性统计分析领域*主要的专家之一。他目前担任多家公司的顾问,针对统计方法的不同工程和科研应用为企业提供咨询,开发了新的统计方法和计算机程序。Nelson博士为企业、高校和专业协会提供讲学、培训和研讨;Nelson博士还是一名鉴定人,并曾在通用电气公司研发部门从事应用咨询25年。 鉴于他在可靠性、加速试验方面的贡献,Nelson博士被选为美国统计协会会员(1973)、美国质量协会会员(1983)以及电气与电子工程师学会(IEEE)会员(1988)。由于他在产品可靠性与加速试验数据统计方法开发与应用方面的突出贡献,通用电气公司研发部为他颁发了1981年度Dushman奖。美国质量协会为表彰他杰出的技术领导与创新发展能力而授予他2003年度Shewhart奖。 Nelson博士已发表统计方法方面的学术论文120余篇,其中大部分都是关于工程应用的。由于发表的论文,他曾获1969年度Brumbaugh奖、1970年度Youden奖和1972年度Wilcoxon奖,以及所有美国质量协会的奖项。ASA为表彰他在国家联合统计会议上发表的高水平论文,已经授予他8次杰出表现奖。 1990年,他获得**个NIST/ASA/NSF高级研究奖学金资助,在美国国家标准与技术研究所合作研究微电子的电迁移失效模型。2001年,受Fulbright奖资助,他在阿根廷从事可靠性数据分析的研究和讲学工作。 1982年,Nelson博士完成专著Applied Lfe Data Analysis的撰写,并由Wiley出版社出版发行; 1988年该书由日本科学家和工程师联合会翻译成日语出版。1990年,Wiley出版社出版了他的标志性著作Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses。2003年,ASASIAM出版了他的著作Recurrent Events Data Analysis for Product Repairs, Disease Episodes, and Other Applications。他还参与了多本教科书和指导手册的编写,并为工程协会的标准建立做出了贡献。

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