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- ISBN:9787522607535
- 装帧:一般胶版纸
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 开本:26cm
- 页数:334页
- 出版时间:2022-07-01
- 条形码:9787522607535 ; 978-7-5226-0753-5
内容简介
本书主要阐释了工业生产和运营中有关过程控制和产品控制的测量系统性能和符合性问题,描述了有关测量系统的理论和分析方法,总结了数十个实践应用案例,适用于航空航天、汽车、电子、钢铁、化工等各类制造业和服务业,可作为研发、设计、质量管理等不同专业人员的工具书和参考书。
目录
前言
第1章 概论
1.1 测量系统分析的基本概念
1.1.1 关于数据
1.1.2 数据的质量
1.1.3 测量系统分析的价值体现
1.2 相关术语
1.2.1 术语比较
1.2.2 测量和测量结果的相关术语
1.2.3 测量系统的相关术语
1.3 测量的常见问题
1.4 使用测量的四种方式
1.4.1 描述(description)
1.4.2 表征(characterization)
1.4.3 代表(representation)
1.4.4 预测(prediction)
1.5 与其他相关内容之间的关系
1.5.1 统计过程控制(SPC)与测量系统分析(MSA)
1.5.2 测量不确定度与测量系统分析
1.5.3 ISO 10012与测量系统分析
1.5.4 IATF16949:2016与测量系统分析
1.5.5 六西格玛与测量系统分析(MSA)
1.6 专业统计软件选择
第2章 测量系统分析的统计基础
2.1 基本统计知识
2.1.1 数据的分类
2.1.2 描述性统计
2.1.3 其他重要的基础知识
2.2 单因子试验:方差分析
2.2.1 举例:拉伸强度
2.2.2 方差分析
2.3 两因子析因设计
2.3.1 固定效应模型的统计分析
2.3.2 无交互作用的两因子方差分析
2.3.3 只做一次测量的情形
2.3.4 一般析因试验
2.3.5 含随机因子的两因子方差分析
2.4 非参数统计
2.4.1 关于非参数统计的基本概述
2.4.2 次序(顺序)统计量、秩和秩统计量
2.4.3 相关性检验
2.4.4 一致性检验
第3章 计量型测量系统分析变差原理
3.1 测量过程的特征
3.1.1 测量模型
3.1.2 测量变差源的贡献
3.1.3 测量误差的分布
3.1.4 测量系统的可预测性
3.2 测量系统变差的类型
3.2.1 位置变差
3.2.2 宽度变差
3.3 测量系统变差的来源
3.3.1 认识过程变差的组成
3.3.2 测量系统变差来源
3.3.3 GRR主要变差源
3.4 测量系统变差对决策的影响
3.5 测量系统的能力和性能
3.5.1 测量系统的能力
3.5.2 测量系统的性能
3.6 测量系统的统计特性
……
第4章 测量系统研究方法导引
第5章 计量型测量系统的准确度研究
第6章 计量型测量系统精密度研究
第7章 计数型测量系统研究
第8章 属性一致性研究
第9章 复杂测量系统研究
第10章 测量过程评估(EMP)方法
第11章 测量系统分析应用案例解析
第12章 测量系统管理与发展
参考文献
附录
第1章 概论
1.1 测量系统分析的基本概念
1.1.1 关于数据
1.1.2 数据的质量
1.1.3 测量系统分析的价值体现
1.2 相关术语
1.2.1 术语比较
1.2.2 测量和测量结果的相关术语
1.2.3 测量系统的相关术语
1.3 测量的常见问题
1.4 使用测量的四种方式
1.4.1 描述(description)
1.4.2 表征(characterization)
1.4.3 代表(representation)
1.4.4 预测(prediction)
1.5 与其他相关内容之间的关系
1.5.1 统计过程控制(SPC)与测量系统分析(MSA)
1.5.2 测量不确定度与测量系统分析
1.5.3 ISO 10012与测量系统分析
1.5.4 IATF16949:2016与测量系统分析
1.5.5 六西格玛与测量系统分析(MSA)
1.6 专业统计软件选择
第2章 测量系统分析的统计基础
2.1 基本统计知识
2.1.1 数据的分类
2.1.2 描述性统计
2.1.3 其他重要的基础知识
2.2 单因子试验:方差分析
2.2.1 举例:拉伸强度
2.2.2 方差分析
2.3 两因子析因设计
2.3.1 固定效应模型的统计分析
2.3.2 无交互作用的两因子方差分析
2.3.3 只做一次测量的情形
2.3.4 一般析因试验
2.3.5 含随机因子的两因子方差分析
2.4 非参数统计
2.4.1 关于非参数统计的基本概述
2.4.2 次序(顺序)统计量、秩和秩统计量
2.4.3 相关性检验
2.4.4 一致性检验
第3章 计量型测量系统分析变差原理
3.1 测量过程的特征
3.1.1 测量模型
3.1.2 测量变差源的贡献
3.1.3 测量误差的分布
3.1.4 测量系统的可预测性
3.2 测量系统变差的类型
3.2.1 位置变差
3.2.2 宽度变差
3.3 测量系统变差的来源
3.3.1 认识过程变差的组成
3.3.2 测量系统变差来源
3.3.3 GRR主要变差源
3.4 测量系统变差对决策的影响
3.5 测量系统的能力和性能
3.5.1 测量系统的能力
3.5.2 测量系统的性能
3.6 测量系统的统计特性
……
第4章 测量系统研究方法导引
第5章 计量型测量系统的准确度研究
第6章 计量型测量系统精密度研究
第7章 计数型测量系统研究
第8章 属性一致性研究
第9章 复杂测量系统研究
第10章 测量过程评估(EMP)方法
第11章 测量系统分析应用案例解析
第12章 测量系统管理与发展
参考文献
附录
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作者简介
董双财,历任全国六西格玛管理推进工作委员会专家委员。六西格玛黑带大师(MBB),精益六西格玛资深咨询顾问。从事精益六西格玛(LSS)等管理咨询培训近二十年,是国内*早一批取得MBB的黑带大师。主要工作领域包括计量测试理论、统计质量控制理论、误差理论的研究与实践等,对于质量管理中的测量系统分析领域有扎实的基础和深入研究,在航空航天、汽车、电子电器、半导体、钢铁、烟草、化工、软件等众多行业有着非常丰富的管理咨询经验。
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