包邮电子系统测试原理

预估到手价 ¥28.5 (7.3折) ?

1星价 ¥28.5

2星价￥28.5 定价￥39.0

暑期大促，全场包邮！

作者：（美）莫瑞达，（美）佐瑞安　著，张威，王仲　译

出版社：机械工业出版社

本类榜单：工业技术

所属丛书：电子与电气工程丛书

分类：工业技术 > 电子通信 > 一般性问题

暂无评论

图文详情

ISBN：7111198085
装帧：简裝本
册数：暂无
重量：暂无
开本：其它
页数：322
出版时间：2007-01-01
条形码：9787111198086 ; 978-7-111-19808-6

内容简介

随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更精确的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于随机逻辑、存储器、FPGA和微处理器。*后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。

第I部分设计与测试
　第1章测试综述
　　1.1可靠性与测试
　　1.2设计过程
　　1.3验证
　　　1.3.1功能模拟
　　　1.3.2时间模拟
　　1.4测试
　　1.5故障及其检测
　　1.6测试码生成
　　1.7故障覆盖率
　　1.8测试类型
　　　1.8.1穷举测试
　　　1.8.2伪穷举测试
　　　1.8.3伪随机测试
　　　1.8.4确定性测试
　　1.9测试应用
　　　1.9.1在线测试与离线测试
　　　1.9.2自动测试仪器
　　　1.9.3片上测试与片外测试
　　1.10易测试性设计
　　　1.10.1可控性
　　　1.10.2可观察性
　　1.11测试经济
　　　1.11.1收益和缺陷级
　　　1.11.2故障覆盖率和缺陷级别
　　1.12进一步研究
　　参考文献
　　习题
　第2章缺陷、失效和故障
　　2.1简介
　　2.2物理缺陷
　　　2.2.1材料过多和缺失
　　　2.2.2氧化物断裂
　　　2.2.3电迁移
　　2.3故障模式
　　　2.3.1开路
　　　2.3.2短路
　　2.4故障
　　2.5固定型故障
　　　2.5.1单固定型故障
　　　2.5.2多固定故障
　　2.6故障列表
　　　2.6.1等价关系
　　　2.6.2支配关系
　　　2.6.3故障精简
　　2.7桥接故障
　　2.8短路和开路故障
　　　2.8.1NMOS电路
　　　2.8.2CMOS电路
　　2.9时延故障
　　2.10暂时失效
　　　2.10.1瞬时故障
　　　2.10.2间歇故障
　　2.11噪声失效
　　参考文献
　　习题
　第3章设计表示
　第4章VLSI设计流程
第II部分测试流程
　第5章测试中模拟的角色
　第6章自动测试码生成
　第7章电流测试
第III部分易测试性设计
　第8章专用技术
　第9章路径扫描设计
　第10章边界扫描测试
　第11章内建自测试
第IV部分特殊结构
　第12章存储器测试
　第13章FPGA与微处理器的测试
第V部分高级论题
　第14章易测试性综合
　第15章SOC测试
附录A参考书目
附录B缩写词表

展开全部