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数字电子技术实验及Multisim仿真应用

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  • ISBN:9787030644039
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:26cm
  • 页数:213页
  • 出版时间:2020-02-01
  • 条形码:9787030644039 ; 978-7-03-064403-9

内容简介

本书根据数字电子技术课程教学大纲及教学基本要求编写而成。全书系统地介绍了数字电子技术实验的基本方法, 实验内容按照由浅入深、循序渐进、逐步提高的原则安排, 按照学生能力形成的不同阶段, 分为基础实验、设计及综合实验、Multisim仿真应用三部分, 将硬件实验方式向多元化、现代化实验方式转移。

目录

绪论
**部分 基础实验
实验1 集成门电路逻辑功能测试
实验2 TTL门电路参数测试
实验3 TS门和OC门及应用
实验4 SSI组合逻辑电路
实验5 译码器和数据选择器及其扩展应用
实验6 MSI组合逻辑电路
实验7 触发器逻辑功能测试
实验8 SSI时序逻辑电路
实验9 集成计数器及寄存器
实验10 555定时器及应用电路
实验11 半导体随机存取存储器
实验12 D/A与A/D转换

第二部分 设计及综合实验
实验1 顺序脉冲发生器电路设计
实验2 移位寄存器型彩灯控制电路设计
实验3 汽车尾灯控制电路设计
实验4 多路竞赛抢答器电路设计
实验5 交通灯控制电路设计
实验6 数字电子钟电路设计

第三部分 Multisim仿真应用
第1章 Multisim 10简介及其基本操作
1.1 Multisim 10概述
1.2 Multisim10的菜单命令
1.3 Multisim10的工具栏
1.4 Multisim 10的元器件库
1.5 Multisim10的仪器仪表库
1.6 构建仿真电路的基本操作
第2章 Multisim电路仿真
2.1 集成门电路逻辑功能仿真
2.2 组合逻辑电路逻辑功能仿真
2.3 触发器电路逻辑功能仿真
2.4 时序逻辑电路逻辑功能仿真
2.5 脉冲产生与整形电路仿真
2.6 半导体RAM仿真

参考文献
附录 常用集成电路引脚图
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