超大规模集成电路设计——从工具到实例

第1章 集成电路设计概论 001
1.1 集成电路的发展 002
1.1.1 历史回顾 002
1.1.2 集成电路的分类 003
1.1.3 超大规模集成电路的质量要求 005
1.2 设计EDA工具 008
1.2.1 Synopsys 009
1.2.2 Cadence 010
1.2.3 华大九天 011
习题 013 第2章 集成电路制造工艺 014
2.1 CMOS工艺流程 015
2.1.1 硅片制备 015
2.1.2 芯片制造 017
2.1.3 测试 023
2.1.4 封装和终测 025
2.2 设计规则 026
2.3 工艺选择 029
2.4 工艺技术的发展趋势 030
习题 031 第3章 超大规模集成电路设计方法 032
3.1 系统设计方法 033
3.1.1 结构化设计思想 034
3.1.2 自顶向下设计 035
3.1.3 正向设计与反向设计 036
3.1.4 IP复用技术 037
3.2 全定制设计方法 038
3.3 半定制设计方法 040
3.3.1 基于标准单元的设计方法 041
3.3.2 基于门阵列的设计方法 043
3.3.3 基于FPGA的设计方法 044
3.4 可测性设计 046
3.4.1 可测性的概念 047
3.4.2 常用的可测性设计 048
习题 051 第4章 器件设计实例 052
4.1 二极管 053
4.1.1 二极管设计 054
4.1.2 静态特性仿真 056
4.1.3 动态特性 058
4.2 MOS晶体管 060
4.2.1 MOS晶体管设计 060
4.2.2 静态特性仿真 062
4.2.3 动态特性 066
4.3 闩锁效应 067
习题 068 第5章 互连设计实例 069
5.1 互连 070
5.1.1 互连分类 070
5.1.2 互连参数 071
5.2 导线实例 074
5.2.1 理想导线 074
5.2.2 集总RC模型 076
5.2.3 导线特性仿真 077
5.3 按比例缩小 081
习题 085 第6章 CMOS反相器设计实例 086
6.1 CMOS反相器电路设计 087
6.1.1 电路设计 087
6.1.2 功能仿真 088
6.2 静态特性仿真 091
6.2.1 开关阈值仿真 092
6.2.2 器件参数变化与电路稳定性仿真 092
6.3 动态特性仿真 095
习题 097 第7章 组合逻辑电路设计实例 098
7.1 静态电路设计 099
7.1.1 互补CMOS设计方法 099
7.1.2 有比逻辑设计方法 100
7.1.3 传输管逻辑设计方法 102
7.2 二输入与非门设计实例 104
7.2.1 电路设计 105
7.2.2 瞬态仿真分析 106
7.2.3 电路参数及性能优化 107
7.3 二输入或非门设计实例 110
7.3.1 电路设计及瞬态仿真 110
7.3.2 电路参数及性能优化 111
7.4 加法器设计实例 112
7.4.1 加法器定义 113
7.4.2 静态互补加法器电路设计与仿真 113
7.4.3 传输门加法器电路设计与仿真 114
7.4.4 曼彻斯特进位链加法器电路设计与仿真 116
习题 118 第8章 时序逻辑电路设计实例 119
8.1 时序逻辑电路概述 120
8.1.1 双稳态原理 120
8.1.2 锁存器与寄存器 121
8.1.3 时序逻辑电路时间参数 124
8.2 锁存器设计实例 125
8.2.1 正锁存器电路设计及仿真 125
8.2.2 负锁存器电路设计及仿真 127
8.2.3 性能优化分析 128
8.3 寄存器设计实例 129
8.3.1 主从结构寄存器设计 129
8.3.2 性能参数优化 131
8.4 时序电路优化方法—流水线 132
习题 134 第9章 存储器设计实例 135
9.1 存储器概述 136
9.1.1 存储器分类 136
9.1.2 存储器结构 139
9.2 只读存储器 140
9.2.1 ROM单元结构 141
9.2.2 浮栅结构 143
9.2.3 ROM的设计实例 144
9.3 静态随机存储器实例 146
9.3.1 静态随机存储器单元结构 150
9.3.2 读写操作仿真 151
9.3.3 单元性能指标 153
9.4 动态随机存储器实例 156
9.4.1 单管动态存储单元结构 157
9.4.2 读写操作 159
9.5 存储器的发展趋势 161
习题 162 参考文献 163