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- ISBN:9787810779739
- 装帧:暂无
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 开本:16开
- 页数:暂无
- 出版时间:2007-02-01
- 条形码:9787810779739 ; 978-7-81077-973-9
本书特色
本书从实用角度出发,系统、全面地介绍了智能系统的设计与开发技术。. 全书共16章,分别介绍智能系统的结构特征、设计开发过程、信号获取方法、键盘键语分析技术、显示与人工语言合成技术、VXI和STD接口技术、DAC与ADC使用技术,以及智能系统常用的基本算法(20种)和测量算法(17种)、监控程序设计、大系统软件设计与系统设计开发的几项关键技术(非线性补偿、标度变换、数字滤波、分布参数抑制、自校零自诊断技术)。.. 全书通过11种整机系统设计开发实例,进一步介绍智能系统设计开发技术,以及虚拟仪器系统及设计、工业控制系统及设计和系统的开发调试设备与调试等内容。书中还给出相应的例题与练习,是一本重在实用、兼顾基础的应用教程。 本书可作为高等院校电子信息、测试计量技术、仪器仪表、生物医学、机械制造、计算机应用、工业自动化、机电一体化、精密仪器测定与控制、汽车与机械类等专业的本科生高年级及研究生的教材,也可供科研人员、工程技术人员及自学者阅读参考。...
目录
第1章概述. |
1.1引言 |
1.2智能系统的结构特征 |
1.2.1智能系统的结构 |
1.2.2智能系统的特征 |
1.3智能系统的基本功能及发展趋势 |
1.3.1基本功能 |
1.3.2发展趋势 |
1.3.3个人(专家)系统 |
1.4智能系统的设计开发过程 |
1.4.1明确设计准则及要求 |
1.4.2制定方案的主要工作 |
1.4.3方案实施过程 |
习题 |
第2章智能系统的信号获取方法 |
2.1获取信号敏感器件的物理特性 |
2.1.1信号获取方法的对象 |
2.1.2信号获取方法的变换原理 |
2.1.3信号获取方法的组成 |
2.1.4传感器的应用举例 |
2.1.5传感器的参数 |
2.1.6选择传感器应注意的事项 |
2.2位移信号获取方法 |
2.2.1直线位移信号获取方法 |
2.2.2角位移信号获取方法 |
2.3速度和加速度信号获取方法 |
2.3.1线速度信号获取方法 |
2.3.2转速信号获取方法 |
2.3.3加速度信号获取方法 |
2.4压力信号获取方法 |
2.4.1金属电阻应变片式 |
2.4.2半导体应变片式 |
2.4.3压电晶体式 |
2.5流量信号获取方法 |
2.5.1涡轮式 |
2.5.2电磁式 |
2.5.3半导体式 |
2.6温度信号获取方法 |
2.6.1热电阻式 |
2.6.2热电偶式 |
2.6.3PN结式 |
2.6.4红外线式 |
2.7光敏信号获取方法 |
2.7.1光敏电阻式 |
2.7.2光电二极管式 |
2.7.3光电三极管式 |
2.7.4光电倍增管式 |
2.7.5光电池式 |
2.7.6光电耦合式 |
2.7.7光纤式 |
2.8CCD图像信号获取方法 |
2.8.1CCD线性图像变换式 |
2.8.2CCD面积图像变换式 |
2.8.3通用型CCD图像变换式 |
2.8.4CCD应用举例 |
2.9气敏信号获取方法 |
2.9.1二氧化锡(SnO2)类 |
2.9.2氧化锌(ZnO)类 |
2.9.3三氧化二铁(Fe2O3)类 |
习题 |
第3章智能系统的键盘 |
3.1键盘输入的特点及键盘的处理 |
3.1.1键盘输入的特点 |
3.1.2键盘输入的处理 |
3.2键盘的组织 |
3.2.1独立连接式无编码键盘 |
3.2.2独立连接式编码键盘 |
3.2.3矩阵连接式无编码键盘 |
3.2.4矩阵连接式编码键盘 |
3.2.5CRT屏幕键盘 |
3.3键合跳动和叠键的防止 |
3.4键语分析 |
3.4.1键语 |
3.4.2键语状态图 |
3.4.3键语状态表 |
3.4.4键语分析程序 |
3.4.5其他键语分析方法 |
习题 |
第4章智能系统的显示和语音合成 |
4.1智能系统的显示 |
4.1.1显示的主要方式 |
4.1.2发光二极管显示 |
4.1.3七段显示器 |
4.1.4七段显示器的驱动方式 |
4.1.5点阵字符显示器 |
4.1.6矢量式CRT显示 |
4.1.7点阵式CRT显示 |
4.2集成6845型CRT控制器的功能特点及应用 |
4.2.1集成6845型CRT的功能特点 |
4.2.2集成6845型CRTC的应用举例 |
4.3人工语音合成 |
4.3.1人工语音合成方法 |
4.3.2人工语音程序的编制方法 |
习题 |
第5章智能系统的接口 |
5.1国际标准通用VXI接口 |
5.1.1VXI的由来与特点 |
5.1.2VXI系统的组成结构 |
5.1.3VXI系统的总线结构 |
5.1.4VXI总线器件及其通信协议 |
5.1.5VXI总线器件的实现 |
5.2国际通用STD接口 |
5.2.1总线信号的定义和排列 |
5.2.2总线信号的功能 |
5.2.3总线的实现 |
习题 |
第6章智能系统的DAC转换技术 |
6.1DAC与微系统的联用方法 |
6.2利用DAC产生波形的方法 |
6.2.1斜坡电压的产生方法 |
6.2.2三角波的产生方法 |
6.2.3矩形脉冲的产生方法 |
6.2.4任意波形的产生方法 |
6.3利用DAC绘图的方法 |
6.3.1一维输出方法 |
6.3.2二维输出方法 |
6.48位以上的DAC的连接方法 |
6.5专为微处理器配用的DAC使用方法 |
6.5.1AD558的使用方法 |
6.5.2AD7542的使用方法 |
6.5.3AD7542的应用 |
6.5.4AD7543的使用方法 |
习题 |
第7章智能系统的ADC转换技术 |
7.1ADC与微系统的联用方法 |
7.2比较式ADC转换技术 |
7.2.1斜坡式比较法 |
7.2.2逐次逼近法 |
7.3ADC集成电路的使用方法 |
7.3.18255接口使用方法 |
7.3.26820接口使用方法 |
7.3.3不使用可程控接口方法 |
7.4数字面板表集成电路的利用方法 |
7.4.1单量程双极性DPM的使用方法 |
7.4.2多量程双极性DPM的使用方法 |
7.5利用DPM构成数据采集系统的方法 |
7.6数据采集系统及其定时方法 |
7.6.1利用软件计数延时来定时的方法 |
7.6.2利用实时时钟作查询定时的方法 |
7.6.3利用实时时钟来中断的方法 |
7.7采集到的数据的利用方法 |
7.8数据采集集成电路的使用方法 |
习题 |
第8章智能系统的基本算法 |
8.1算法的基本概念 |
8.2二进制整数的表示法 |
8.2.1无符号二进制整数 |
8.2.2有符号二进制整数的表示 |
8.2.3字节的扩充和压缩 |
8.3二进制整数加法 |
8.3.1单字节数相加 |
8.3.2多字节数相加 |
8.4二进制整数减法 |
8.5二进制整数乘法 |
8.5.1无符号数相乘 |
8.5.2有符号数相乘 |
8.5.3Wallace树算法 |
8.5.4Booth算法 |
8.5.5近似值的简化算法 |
8.6二进制整数除法 |
8.6.1无符号数相除 |
8.6.2有符号数相除 |
8.6.3除法中的若干特殊问题 |
8.6.4简化的除法算法 |
8.7二进制定点数的计算 |
8.7.1定点数的加和减 |
8.7.2定点数的乘和除 |
8.7.3截尾舍入法 |
8.8二进制浮点数的计算 |
8.8.1采用浮点数的原因 |
8.8.2二进制浮点数的表示法和惯例 |
8.8.3浮点数的归一化 |
8.8.4浮点数的计算 |
8.9十进制数的计算 |
8.10常用函数的近似计算 |
8.10.1开方根的计算 |
8.10.2利用幂级数计算常用函数 |
8.10.3利用曲线拟合法计算函数的近似值 |
8.11检索和查表 |
8.11.1无序清单的检索.. |
8.11.2寻找极值 |
8.11.3排序 |
8.11.4有序清单的检索 |
8.11.5表格的组织与查表法 |
习题 |
第9章智能系统的测量算法 |
9.1主序算法和内务算法 |
9.2定时算法 |
9.3随机误差的处理 |
9.4利用误差模型修正误差 |
9.5利用校准数据表修正误差 |
9.6通过曲线拟合来求得校准方程 |
9.7误差修正技术应用举例 |
9.8利用算法来提高设备硬件性能 |
9.8.1四相三斜型积分式A/D转换 |
9.8.2多斜I型A/D转换 |
9.8.3多斜II型A/D转换 |
9.8.4余数再循环式A/D转换 |
9.8.5提高测时分辨力的双游标法 |
9.8.6频率计数器中的自动变频法 |
9.9多处理器系统中的算法问题 |
9.9.1主从通信 |
9.9.2ADC的控制 |
9.9.3多个仆从μC的系统 |
9.9.4按预定计划调度任务的调度程序 |
9.10自检与告警显示 |
9.10.1硬件自检 |
9.10.2自检算法 |
习题 |
第10章智能系统设计开发的几项关键技术 |
10.1非线性补偿技术 |
10.1.1开环式非线性补偿法 |
10.1.2线性插值法实现线性化 |
10.1.3二次抛物线插值法 |
10.1.4查表法 |
10.2标度变换(工程变换)技术 |
10.2.1标度变换原理 |
10.2.2线性信号获取法特性的标度变换 |
10.2.3非线性信号获取法特性的标度变换 |
10.3数字滤波技术 |
10.3.1算术平均值法 |
10.3.2加权平均值法 |
10.3.3中位值法 |
10.3.4一阶惯性滤波法 |
10.3.5抑制脉冲算术平均法 |
10.4分布参数抑制技术 |
10.4.1分布参数的影响 |
10.4.2分布参数抑制技术 |
10.5自动零位校准和自动精密校准技术 |
10.5.1自校零与零位偏移补偿 |
10.5.2替代法自校准 |
10.6自诊断技术 |
10.6.1信号获取法通道断线自诊断 |
10.6.2信号获取法检测回路短路保护和自检 |
习题 |
第11章智能系统的监控程序设计 |
11.1直接分析法设计监控程序 |
11.2状态变量法设计监控程序 |
11.2.1状态与状态矩阵 |
11.2.2设计步骤 |
11.2.3状态图和状态表的设计 |
11.2.4监控主程序设计举例 |
习题 |
第12章智能系统的软件(大系统软件)设计 |
12.1结构化设计 |
12.2由顶向下设计 |
12.3模块化编程 |
12.3.1模块的大小 |
12.3.2模块的独立性 |
12.3.3模块的具体定义 |
12.4结构化编码 |
12.4.1过程匣 |
12.4.2二中选一 |
12.4.3广义循环 |
12.4.4另一形式的循环 |
12.4.5多种情况转移 |
12.4.6调用子程序 |
12.4.7有限制地使用无条件转移 |
12.5非结构化程序变换为结构化 |
12.5.1重复编码法 |
12.5.2状态变量法 |
12.5.3布尔标志法 |
12.6伪编码 |
12.7文件的编制与文体 |
12.7.1总框图和概述 |
12.7.2软件使用说明 |
12.7.3变量和定义清单 |
12.7.4存储器映射图表 |
12.7.5程序清单 |
12.7.6检验方法 |
12.8结构化原则 |
12.8.1结构化分析 |
12.8.2软件指标 |
12.8.3系统结构分析 |
12.8.4结构图分解 |
12.8.5小指标 |
12.8.6检阅 |
12.8.7编制文件 |
12.9结构化设计举例 |
12.9.1模块分解 |
12.9.2伪编码 |
12.9.3检阅 |
12.10编码 |
12.10.1预防性措施 |
12.10.2留有更改余地 |
12.10.3考虑软硬件检验 |
12.10.4具体编码 |
12.11操作系统 |
12.11.1操作系统的作用 |
12.11.2描述字节 |
12.11.3结构化分析 |
12.11.4模块分解 |
12.11.5伪编码 |
12.11.6编码 |
习题 |
第13章智能系统设计举例 |
13.1智能化数字多用表 |
13.1.1设计目标 |
13.1.2总体结构 |
13.1.3关键逻辑电路的设计 |
13.1.4运算功能 |
13.1.5IEEE488标准 |
13.1.6软件结构 |
13.1.7仪器的可靠性设计 |
13.2智能化测温系统 |
13.2.1硬件结构 |
13.2.2软件设计 |
13.2.3主要功能环节的程序原理 |
13.3智能化电感电容电阻测量系统 |
13.3.1主要技术指标及功能 |
13.3.2工作原理及特点 |
13.3.3程序结构 |
13.4智能动态线径测量系统 |
13.4.1测量原理 |
13.4.2主要部件 |
13.4.3系统电路 |
13.4.4系统程序 |
13.5智能化表软件设计 |
13.6智能化系统人机接口设计 |
13.6.1设计特点 |
13.6.2设计的有关问题 |
习题 |
第14章智能虚拟仪器系统及设计 |
14.1虚拟仪器的结构特点 |
14.1.1虚拟仪器的结构 |
14.1.2虚拟仪器的特点 |
14.2虚拟仪器(软件程序)驱动器 |
14.2.1虚拟仪器驱动器的组成 |
14.2.2虚拟仪器驱动器的开发环境(几种软件包) |
14.2.3虚拟仪器驱动器(软件)的设计举例 |
14.3虚拟仪器设计举例 |
14.3.1总线仪器公用硬件接口 |
14.3.2可程控仪器标准命令 |
14.3.3总线虚拟仪器的编程 |
14.3.4虚拟仪器工具软件的功能 |
习题 |
第15章智能工业控制系统及设计 |
15.1顺序控制与PC系统 |
15.2PC的结构及工作原理 |
15.2.1PC的基本结构 |
15.2.2PC的工作原理 |
15.3PC系统的编程方法 |
15.3.1编程语言 |
15.3.2梯形图与指令字的编程方法 |
15.4PC控制应用举例 |
15.4.1直流电机送料小车控制系统 |
15.4.2流水线产品计件装箱控制系统 |
15.4.3产品质量分选检验控制系统 |
习题 |
第16章智能系统的开发调试设备与调试 |
16.1微处理器测试设备 |
16.2微处理器开发设备 |
16.3A型开发系统 |
16.4调试仪 |
16.4.1调试仪的结构特点 |
16.4.2调试仪的电气特点 |
16.4.3缓冲存储内容的显示 |
16.5B型开发系统 |
16.5.1B型MDE的结构 |
16.5.2B型MDE上的软件开发 |
16.5.3B型和A型MDE的混合使用 |
16.6仿真 |
16.7正式的调试 |
16.7.1仿真时的调试 |
16.7.2电路内部分仿真 |
16.7.3电路内总体仿真 |
16.7.4异步调试 |
16.7.5定时循环的检验 |
16.7.6中断的检验 |
16.8多重微处理器系统的调试 |
习题 |
附录A国际单位制(SI)及转换表 |
附录B整机系统的色彩和造型比例 |
B.1整机系统色彩 |
B.2整机系统造型比例与尺度... |
展开全部
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