- ISBN:9787312037498
- 装帧:一般胶版纸
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 开本:24cm
- 页数:11,57页
- 出版时间:2017-01-01
- 条形码:9787312037498 ; 978-7-312-03749-8
本书特色
布伦特·福尔兹、詹姆斯·豪编*的《材料的透射电子显微学与衍射学》是为以物理科学为背景的高年级大学生和新入学的研究生而写的。其目标是使他们尽可能快地了解透射电子显微学(TEM)和X射线衍射学的基础概念和一些细节,它们对材料的表征是重要的。本书话题的发展过程是和大多数近代TEM和XRD研究材料的现代水平相协调的。本书的内容也提供了进一步研究先进的散射、衍射和显微学课题的基本准备。本书包括许多实际细节和实例,但不包含实验室工作中的一些重要课题,如TEM样品的制备方法等。
内容简介
本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜 (TEM) 和X-射线衍射 (XRD) 。与第三版相比, 这一版所有章节都进行了更新和修订, 并增加了与TEM有关的重要的新技术, 如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理, 以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别, 并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。
目录
作者简介
吴自勤,中国科学技术大学教授,博士生导师,国内凝聚态物理、电子显微学和薄膜生长领域的著名学者。曾任中国物理学会《物理》杂志主编、《电子显微学报》副主编,是中国电子显微镜学会创始人之一,曾任中国电子显微镜学会常务理事、材料物理专业委员会主任。承担了多项国家自然科学基金项目,在国内外学术刊物上发表论文200余篇。获中国科学院自然科学奖一等奖、安徽省高校科学技术进步奖、中国分析测试学会科学技术奖和国防科工委科技进步奖。编撰出版了《薄膜生长》《固体物理实验方法》《微分析物理及其应用》和《分形原理和应用》等专著,翻译出版了《现代晶体学》。 石磊,工学博士,工程师。主要研究领域为材料结构与物理性能。在国际学术刊物上发表相关论文30余篇。现在中国科学技术大学理化科学实验中心高分辨透射电镜研究室工作,主要负责包括球差透射电子显微镜在内的透射电镜及其相关附属设备的日常运行和分析测试工作。 布伦特·福尔兹(Brent Fultz),美国加州理工学院应用物理和材料科学系教授。1982年获加州大学伯克利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖和美国TMS学会电子、磁学及光子材料分会杰出科学家奖得主。美国散裂中子源广角范围斩波器谱仪项目和美国中子散射实验分散数据分析软件项目的主要科学家。在利用非弹性中子散射对材料热力学的基本理解方面作出了突出贡献。 詹姆斯·豪(James Howe),美国弗吉尼亚大学材料科学与工程系教授。1985年获加州大学伯克利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖、德国洪堡高级研究员奖和美国材料信息学会材料科学研究银奖得主。研究领域包括应用高分辨和分析透射电子显微术研究材料的相变、相边界的结构与性质等。
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