×
公差配合与技术测量

包邮公差配合与技术测量

1星价 ¥10.9 (3.8折)
2星价¥10.9 定价¥29.0

温馨提示:5折以下图书主要为出版社尾货,大部分为全新(有塑封/无塑封),个别图书品相8-9成新、切口有划线标记、光盘等附件不全详细品相说明>>

暂无评论
图文详情
  • ISBN:9787562149163
  • 装帧:平装-胶订
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 开本:26cm
  • 页数:144页
  • 出版时间:2010-07-01
  • 条形码:9787562149163 ; 978-7-5621-4916-3

内容简介

本书包括绪论、量具使用、尺寸公差与配合、形状和位置公差、表面粗糙度、技术测量六部分。具体内容包括:互换性、加工误差与公差、公差标准、技术测量、概述、游标量具、螺旋测微量具、指示表类量具等。

目录

单元 绪论
第二单元 量具使用
第三单元 尺寸公差与配合
第四单元 形状和位置公差
第五单元 表面粗糙度
第六单元 技术测量
附录
参考文献
展开全部

预估到手价 ×

预估到手价是按参与促销活动、以最优惠的购买方案计算出的价格(不含优惠券部分),仅供参考,未必等同于实际到手价。

确定
快速
导航